IM3536LCR測(ce)試儀產(chan)品概述 DC，4Hz~8MHz測(ce)量頻率，今后(hou)的標桿(gan)產(chan)品 ● 測(ce)量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測(ce)量時(shi)間：較(jiao)快1ms ● 基本精(jing)度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精(jing)度保(bao)證范圍，也(ye)可安心(xin)進行低(di)阻測(ce)量 ● 可內(nei)部發(fa)生(sheng)DC偏壓測(ce)量 ● 從研發(fa)到生(sheng)產(chan)線活(huo)躍(yue)在各(ge)種領域(yu)中
IM3533LCR測試儀產(chan)品概(gai)述(shu) 應用于生(sheng)產(chan)線和(he)自動(dong)化測試領域的理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在(zai)比(bi)如(ru)C-D和(he)ESR這(zhe)樣的混合測量條件下，可以以往產(chan)品10倍的速度不間斷(duan)測試。 ● 內置比(bi)較器和(he)BIN功能 ● 2ms的快速測試時(shi)間
IM3523LCR測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)產(chan)品概述 應用于生(sheng)產(chan)線和(he)自動化測(ce)(ce)(ce)試(shi)領域的(de)理(li)想選擇(ze) ● 基本精度±0.05％，測(ce)(ce)(ce)量范圍(wei)廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在(zai)比(bi)如C-D和(he)ESR這樣的(de)混合測(ce)(ce)(ce)量條(tiao)件下，可(ke)以(yi)以(yi)往產(chan)品10倍(bei)的(de)速度不間斷測(ce)(ce)(ce)試(shi)。 ● 內置(zhi)比(bi)較器和(he)BIN功能 ● 2ms的(de)快速測(ce)(ce)(ce)試(shi)時(shi)間
3511-50LCR測試儀產品概述 精巧，非常專(zhuan)業，5ms快速測量(liang)LCR ● 高(gao)速測量(liang)：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高(gao)精度： ± 0.08% ● 內置比較(jiao)器
3506-10C測(ce)試(shi)儀產(chan)品概述 對應1MHz測(ce)試(shi), 低容量(liang)(liang),高精(jing)度,高速測(ce)試(shi) ● 模擬(ni)測(ce)量(liang)(liang)時間(jian)0.6ms（1MHz）的(de)高速測(ce)量(liang)(liang) ● 提高了(le)抗干擾(rao)性，在產(chan)線的(de)上也能實現高反復精(jing)度 ● 1kHz、1MHz測(ce)量(liang)(liang)下，低電容的(de)貼片時可穩定測(ce)量(liang)(liang) ● 根據(ju)BIN的(de)測(ce)定區分(fen)容量(liang)(liang)
3504-60C測(ce)試(shi)儀產品概(gai)述(shu) 封(feng)裝機、分(fen)選(xuan)機、電容器的(de)合格與否的(de)判斷和等級分(fen)類等 ● 高(gao)速測(ce)量2ms ● 能(neng)(neng)根據C 和D （損耗系數*2）的(de)測(ce)量值，進行(xing)被測(ce)物(wu)合格與否的(de)判斷 ● 對(dui)應測(ce)試(shi)線，比較器功能(neng)(neng)/觸發(fa)輸(shu)出功能(neng)(neng) ● 3504-60/-50用BIN的(de)分(fen)選(xuan)接口進行(xing)被測(ce)物(wu)體的(de)測(ce)試(shi) ● 3504-40記(ji)錄工具(ju)，實現高(gao)速/低成(cheng)本的(de)測(ce)試(shi) ● 查出全機測(ce)量中的(de)接觸錯誤，提高(gao)成(cheng)品率
3504-50C測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀產品(pin)概述(shu) 封裝(zhuang)機(ji)、分選(xuan)機(ji)、電容器的合格(ge)與(yu)否的判斷(duan)和(he)等(deng)級(ji)分類等(deng) ● 高速(su)測(ce)(ce)(ce)量2ms ● 能(neng)根據C 和(he)D （損耗系數*2）的測(ce)(ce)(ce)量值，進行被(bei)測(ce)(ce)(ce)物合格(ge)與(yu)否的判斷(duan) ● 對應測(ce)(ce)(ce)試(shi)線，比較器功能(neng)/觸發輸出(chu)功能(neng) ● 3504-60/-50用(yong)BIN的分選(xuan)接口進行被(bei)測(ce)(ce)(ce)物體(ti)的測(ce)(ce)(ce)試(shi) ● 3504-40記錄工具，實現高速(su)/低成本的測(ce)(ce)(ce)試(shi)
3504-40C測(ce)試儀產品(pin)概述 封(feng)裝機(ji)、分選機(ji)、電(dian)容器(qi)的(de)合(he)(he)格與(yu)否的(de)判斷(duan)和(he)等級分類等 ● 高(gao)速測(ce)量(liang)2ms ● 能(neng)根據C 和(he)D （損耗系數*2）的(de)測(ce)量(liang)值，進行被測(ce)物合(he)(he)格與(yu)否的(de)判斷(duan) ● 對應測(ce)試線，比較器(qi)功(gong)能(neng)/觸(chu)發輸出(chu)功(gong)能(neng) ● 3504-60/-50用BIN的(de)分選接(jie)口進行被測(ce)物體的(de)測(ce)試 ● 3504-40記錄工具，實(shi)現高(gao)速/低成本的(de)測(ce)試 ● 查出(chu)全機(ji)測(ce)量(liang)中的(de)接(jie)觸(chu)錯誤，提高(gao)成品(pin)率
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