3506-10C測試儀產品概述對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試● 模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量● 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量● 根據BIN的測定區分容量(liang)
更新時間：2018-07-26
3506-10C測試儀產品概述
對應1MHz測(ce)試, 低容(rong)量,高(gao)(gao)精度,高(gao)(gao)速測(ce)試
● 模擬測(ce)量時間0.6ms(1MHz)的高速測(ce)量
● 提高(gao)了抗干擾性(xing)，在產線的上也(ye)能實現高(gao)反復精(jing)度
● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可(ke)穩定測量
● 根據BIN的測定(ding)區分容量(liang)
3506-10C測試儀選型指南
測量(liang)參數 | C(電容),D(損耗系數tanδ), Q (1/tan δ) |
測量范圍(wei) | C:0.001fF～15.0000μF |
基(ji)本精(jing)度(du) | (代表(biao)值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
測量頻率 | 1kHz, 1MHz |
測(ce)量信號(hao)電平 | 500mV, 1V rms |
輸出電阻(zu) | 1Ω (在(zai)1kHz 時(shi)2.2 μF 以上(shang)量(liang)程(cheng)), 20Ω(除上(shang)述(shu)以外的量(liang)程(cheng)) |
顯示 | LED(6位顯示,滿量程由點(dian)數(shu)有效距離來決定) |
測(ce)量(liang)時間(jian) | 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz |
功能 | BIN分類測量, 觸發同(tong)步輸出, 測量條件記(ji)憶(yi), 測量值(zhi)比較功(gong)能(neng)(neng)(neng), 平均值(zhi)功(gong)能(neng)(neng)(neng), Low-C篩選功(gong)能(neng)(neng)(neng), 振(zhen)動功(gong)能(neng)(neng)(neng), 電(dian)(dian)流檢測監視功(gong)能(neng)(neng)(neng), 輸出電(dian)(dian)壓值(zhi)監視功(gong)能(neng)(neng)(neng), 控制(zhi)用輸入(ru)輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
電源(yuan) | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最(zui)大40VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 電源線(xian)× 1, 電源備用(yong)保險絲× 1，使(shi)用(yong)說明書× 1 |
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