3504-40C測試儀產品概述封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試● 查出全機測量(liang)中的接觸錯誤，提(ti)高成(cheng)品率
更(geng)新時間：2018-07-25
3504-40C測試儀產品概述
封裝機(ji)、分選機(ji)、電容器的(de)合格與否的(de)判斷和等(deng)(deng)級(ji)分類等(deng)(deng)
● 高(gao)速測量2ms
● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量(liang)值(zhi)，進行被測物(wu)合格與(yu)否的判斷
● 對應測(ce)試(shi)線，比較(jiao)器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分(fen)選接口進(jin)行被(bei)測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實現(xian)高速/低成本的測試
● 查出全機測量中(zhong)的接觸錯誤，提高成品(pin)率
3504-40C測試儀選型指南
測量(liang)參數 | Cs,Cp（電(dian)容）,D（損耗系數(shu)tanδ） |
測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF |
基本(ben)精(jing)度 | （代(dai)表(biao)值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 |
測(ce)量頻率(lv) | 120Hz, 1kHz |
測量(liang)信號電平 | 恒(heng)壓模式(shi): 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V |
輸出電阻 | 5Ω（CV測(ce)量范圍以(yi)外的(de)開路端子電壓模(mo)式時(shi)） |
顯示 | 發光二級管 （6位表示，滿量程計算器根據量程而定(ding)） |
測(ce)量(liang)時(shi)間 | 典(dian)型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） |
功能 | BIN分類測量 (3504-40除外), 觸(chu)發(fa)同步輸出, 測量條件(jian)記憶, 測量值(zhi)的比較功(gong)能, 平(ping)均值(zhi)功(gong)能, Low-C篩選功(gong)能, 振(zhen)動功(gong)能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配(pei)), GP-IB接口(3504-40除外) |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
體積及重量(liang) | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附(fu)件 | 電(dian)源線(xian)×1，預(yu)備電(dian)源保險(xian)絲×1，使用說明書(shu)×1 |
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