3555電(dian)池(chi)測試儀產(chan)品概述 立即測定電(dian)池(chi)劣化情況:小型二次電(dian)池(chi)用 ● 通過對(dui)電(dian)池(chi)的內電(dian)阻和(he)內電(dian)壓的測量 ● 以合格（pass），警告(gao)（warning）及不合格（fail）三(san)段指示 ● 使本系列產(chan)品能夠立即得到電(dian)池(chi)狀(zhuang)態(tai)的結果
IM7587阻(zu)抗(kang)分析儀產品概述 可信(xin)賴(lai)的(de)機(ji)型3GHz ● 測(ce)(ce)試電壓測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率：1MHz~3GHz ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)時間：較快0.5ms（模擬測(ce)(ce)量(liang)(liang)時間） ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差(cha)：0.07%（測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率1GHz時的(de)代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(ji)僅(jin)機(ji)架一半大(da)小，測(ce)(ce)試頭尺寸僅(jin)手(shou)掌大(da)小 ● 豐(feng)富的(de)接觸檢查（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波形(xing)判(pan)定） ● 分析模式下可以邊掃(sao)描測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率、測(ce)(ce)量(liang)(liang)信(xin)號電平邊
IM7585阻抗分析儀產品概述 高(gao)(gao)速、高(gao)(gao)穩定性測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，提高(gao)(gao)生(sheng)產量(liang)(liang)！測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時間(jian)(jian)：較快(kuai)0.5ms，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差0.07% ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率：1MHz~1.3GHz ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時間(jian)(jian)：較快(kuai)0.5ms（模擬測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時間(jian)(jian)） ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差：0.07%（測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率1GHz時的代表(biao)值） ● 基(ji)本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅機架一半大小，測(ce)(ce)(ce)試頭僅手掌(zhang)大小 ● 豐富的接(jie)觸檢(jian)查功(gong)能（DCR測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波(bo)形判定）
IM7583阻抗分析儀產(chan)品概述 高速、高穩定性測(ce)(ce)(ce)量(liang)，提高生產(chan)量(liang)！測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)間：較快0.5ms ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)頻率：1MHz~600MHz ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)間：較快0.5ms（模擬測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)間） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅機架一半(ban)大(da)小，測(ce)(ce)(ce)試頭僅手掌大(da)小 ● 豐富的接觸檢(jian)查(cha)功能（DCR測(ce)(ce)(ce)量(liang)、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用(yong)分析功能在掃描測(ce)(ce)(ce)量(liang)頻率、測(ce)(ce)(ce)量(liang)信(xin)號電(dian)平的同(tong)時(shi)進行測(ce)(ce)(ce)量(liang)
IM7581阻抗(kang)分析儀產品概述 較快0.5ms，覆蓋(gai)100kHz~300MHz的(de)低(di)頻 ● 緊(jin)湊主機(ji)(ji)僅機(ji)(ji)架一半大(da)小(xiao)、測(ce)試頭僅手掌大(da)小(xiao) ● 豐富的(de)接觸(chu)檢查(cha)功(gong)能(neng)（DCR測(ce)量(liang)、Hi-Z篩選、波形(xing)判定） ● 使(shi)用分析功(gong)能(neng)在掃描測(ce)量(liang)頻率、測(ce)量(liang)信號(hao)電(dian)平的(de)同時進行測(ce)量(liang)
IM7580A阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀產品(pin)概述 較(jiao)快0.5ms，高速、高穩定測量(liang)(liang)(liang)，節省空間(jian)的半個(ge)機架大小(xiao)(xiao) ● 測量(liang)(liang)(liang)頻率1MHz~300MHz ● 測量(liang)(liang)(liang)時間(jian)：較(jiao)快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊(cou)主機僅機架一半大小(xiao)(xiao)、測試頭僅手掌大小(xiao)(xiao) ● 豐富的接觸檢(jian)查功能(neng)（DCR測量(liang)(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波(bo)形判定） ● 使用分(fen)析(xi)功能(neng)在掃描(miao)測量(liang)(liang)(liang)頻率、測量(liang)(liang)(liang)信號電平的同時進行測量(liang)(liang)(liang)
IM3590化學阻(zu)抗分析儀產品概(gai)述 用于測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)氣化學零件(jian)(jian)和材料/電(dian)(dian)池/EDLC（電(dian)(dian)氣雙層電(dian)(dian)容） ● 適用于離子運動和溶(rong)液(ye)電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量，1mHz ～ 200kHz的(de)(de)(de)寬范(fan)圍信號源 ● 1臺機器(qi)即可實現(xian)LCR測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量、掃描(miao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)(de)連續測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量和高(gao)速檢查 ● 可測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)池的(de)(de)(de)無負(fu)載狀態產生的(de)(de)(de)內部電(dian)(dian)阻(zu) ● 較快2ms的(de)(de)(de)高(gao)速測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量，實現(xian)掃描(miao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)(de)高(gao)速化 ● 基(ji)本精度±0.05%，零件(jian)(jian)檢查到研(yan)究開發測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量均可對應(ying)
IM3570阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)產品(pin)概述 1臺儀(yi)器實現(xian)不同測(ce)量(liang)(liang)條件下的(de)(de)(de)高速(su)檢(jian)查(cha)(cha) ● 1臺儀(yi)器實現(xian)LCR測(ce)量(liang)(liang)、DCR測(ce)量(liang)(liang)、掃描測(ce)量(liang)(liang)等(deng)的(de)(de)(de)連續測(ce)量(liang)(liang)和高速(su)檢(jian)查(cha)(cha) ● LCR模式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的(de)(de)(de)高速(su)測(ce)量(liang)(liang) ● 基本精度±0.08%的(de)(de)(de)高精度測(ce)量(liang)(liang) ● 適用于(yu)壓電元(yuan)件的(de)(de)(de)共振特性(xing)檢(jian)查(cha)(cha)、功能性(xing)高分(fen)子(zi)電容的(de)(de)(de)C-D和低ESR測(ce)量(liang)(liang)，電感器（線圈、變壓器）的(de)(de)(de)DCR和L-Q的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)
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