BT4560電(dian)(dian)池阻(zu)抗(kang)測試(shi)儀(yi)產品概(gai)述 鋰電(dian)(dian)池的可靠性判(pan)斷 10秒 ● 低頻(pin)AC-IR*測量(liang)，測量(liang)時(shi)間短 *使(shi)用1Hz以下(xia)的低頻(pin)測量(liang)內阻(zu)的話不需(xu)要充(chong)放電(dian)(dian) ● 也能精(jing)確*測量(liang)低阻(zu)電(dian)(dian)池 *改善S/N比(bi)，在3mΩ量(liang)程下(xia)測試(shi)電(dian)(dian)流為1.5A ● 電(dian)(dian)路結(jie)構較難受到接(jie)觸(chu)電(dian)(dian)阻(zu)和(he)(he)布線電(dian)(dian)阻(zu)的影響，實現穩定測量(liang) ● 同時(shi)測量(liang)阻(zu)抗(kang)和(he)(he)電(dian)(dian)壓
BT3563電(dian)池(chi)測(ce)試儀產(chan)品概述 ● 可直接測(ce)量高達300V的電(dian)壓（BT3563） ● 用(yong)于檢查(cha)高電(dian)壓電(dian)池(chi)組(zu)/電(dian)池(chi)單(dan)元(yuan)的生產(chan)線(xian) ● 大型(xing)（低電(dian)阻）電(dian)池(chi)單(dan)元(yuan)檢查(cha) ● 多種接口(kou)可用(yong)于高速(su)自動化產(chan)線(xian)中
BT3562電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測(ce)(ce)試(shi)儀產(chan)品(pin)概述 大型(xing)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)單(dan)元(yuan)&高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)檢(jian)查的(de)高(gao)速電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測(ce)(ce)試(shi)儀 ● 可直接測(ce)(ce)量高(gao)達300V的(de)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)（BT3563） ● 用于檢(jian)查高(gao)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)組/電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)單(dan)元(yuan)的(de)生產(chan)線(xian) ● 大型(xing)（低(di)電(dian)(dian)阻(zu)）電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)單(dan)元(yuan)檢(jian)查 ● 多種(zhong)接口可用于高(gao)速自動(dong)化產(chan)線(xian)中(zhong)
BT3554電(dian)池測試儀(yi)產品概述 更(geng)加快(kuai)速的判(pan)斷鉛蓄電(dian)池劣(lie)化情況 ● 從測量到(dao)保存較快(kuai)2秒，和舊(jiu)機型(xing)（3554）相比(bi)縮(suo)短了(le)60% ● 測量內部電(dian)阻/電(dian)壓，并瞬間判(pan)斷劣(lie)化狀態（合格、警(jing)告、不(bu)合格） ● 搭(da)載降噪技(ji)術，提(ti)高抗干擾性 ● 通過Bluetooth®無線技(ji)術，實時發送(song)并顯(xian)示測量值（BT3554-01）
3561電(dian)池(chi)(chi)測(ce)試儀產品概述 測(ce)量鋰電(dian)池(chi)(chi)電(dian)壓(ya)和(he)內(nei)阻 ● 高(gao)(gao)精(jing)度:電(dian)阻±0.5% rdg. ±5dgt., 電(dian)壓(ya)±0.01% rdg. ±3dgt. ● 高(gao)(gao)分辨率:電(dian)阻0.01mΩ（300mΩ量程(cheng)）; 電(dian)壓(ya)0.1mV（20V量程(cheng)） ● 高(gao)(gao)速10ms以內(nei)同時測(ce)量內(nei)阻和(he)電(dian)壓(ya) ● 大可以統計30000個數據,有(you)利于(yu)工(gong)程(cheng)管理(li),品質(zhi)管理(li)
3555電池(chi)(chi)測(ce)試儀產品(pin)概述(shu) 立(li)即(ji)測(ce)定電池(chi)(chi)劣(lie)化情況:小(xiao)型二次(ci)電池(chi)(chi)用 ● 通過對(dui)電池(chi)(chi)的內(nei)電阻(zu)和內(nei)電壓的測(ce)量(liang) ● 以合格（pass），警(jing)告(gao)（warning）及不合格（fail）三段指示(shi) ● 使本系列(lie)產品(pin)能夠立(li)即(ji)得到電池(chi)(chi)狀態的結果
IM3536LCR測(ce)試儀產(chan)品概述 DC，4Hz~8MHz測(ce)量(liang)頻率，今后(hou)的標桿產(chan)品 ● 測(ce)量(liang)頻率DC，4Hz~8MHz ● 測(ce)量(liang)時(shi)間(jian)：較(jiao)快1ms ● 基本精(jing)度(du)：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精(jing)度(du)保(bao)證范(fan)圍，也可(ke)安心進行低阻測(ce)量(liang) ● 可(ke)內部發生DC偏壓測(ce)量(liang) ● 從研發到生產(chan)線活躍(yue)在各(ge)種領域中
IM3533LCR測(ce)試(shi)儀產品概述 應用于生(sheng)產線和(he)(he)自動化(hua)測(ce)試(shi)領(ling)域的理想(xiang)選擇 ● 基本精度±0.05％，測(ce)量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比(bi)如C-D和(he)(he)ESR這(zhe)樣的混合測(ce)量條(tiao)件下，可以(yi)以(yi)往產品10倍的速(su)度不間斷測(ce)試(shi)。 ● 內置(zhi)比(bi)較器和(he)(he)BIN功能 ● 2ms的快速(su)測(ce)試(shi)時間
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