3504-50C测试仪-深圳市聚仪精密电子有限公司

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3504-50C測試儀

簡要描述：

3504-50C測試儀產品概述

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
● 3504-40記(ji)錄工具，實(shi)現高速/低成本的測試(shi)

更新時間：2018-07-25

分(fen)享(xiang)到(dao)： 1

詳細介紹

3504-50C測試儀選型指南

測量參數	Cs,Cp（電容(rong)）,D（損耗系數tanδ）
測量范(fan)圍	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度(du)	（代表值(zhi)）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測(ce)定精度(du)(du)= 基本(ben)精度(du)(du)× B× C× D× E, B～E為各(ge)系數(shu)
測量(liang)頻(pin)率	120Hz, 1kHz
測量信號電平	恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程(cheng) (測(ce)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程(cheng) (測(ce)量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量(liang)程(cheng)(cheng) (測量(liang)頻(pin)率 1kHz), ～ 1.45mF 量(liang)程(cheng)(cheng) (測量(liang)頻(pin)率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程(cheng) (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程(cheng) (測量頻率 120Hz)
輸(shu)出(chu)電阻(zu)	5Ω（CV測(ce)量范(fan)圍(wei)以外的開(kai)路端子電(dian)壓(ya)模(mo)式(shi)時）
顯示	發光二(er)級(ji)管（6位表示，滿量(liang)程計算器根據量(liang)程而定）
測(ce)量時間	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量(liang)時(shi)間根據測量(liang)頻率(lv)、測量(liang)速度的不(bu)(bu)同而不(bu)(bu)同
功(gong)能(neng)	BIN分類測量 (3504-40除外), 觸(chu)發同(tong)步輸出, 測量條(tiao)件記憶, 測量值的比較功(gong)(gong)能, 平均值功(gong)(gong)能, Low-C篩選功(gong)(gong)能, 振動功(gong)(gong)能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接(jie)口(kou)（標配), GP-IB接(jie)口(kou)(3504-40除外)
電源	AC 100/120/220/240V ±10%（可選(xuan)擇）, 50/60Hz, 最(zui)大(da)110VA
體積及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	電(dian)(dian)源線(xian)×1，預備電(dian)(dian)源保險(xian)絲(si)×1，使(shi)用(yong)說(shuo)明書×1