IM3523LCR測試儀產品概述應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。● 內置比較器和BIN功能● 2ms的快速測試時(shi)間
更新時間：2018-07-26
IM3523LCR測試儀產品概述(shu)
應(ying)用于(yu)生(sheng)產線和自(zi)動化測試領域(yu)的理想選擇
● 基(ji)本精度±0.05％，測量范(fan)圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比(bi)如C-D和(he)ESR這(zhe)樣的(de)混合測量條件下，可以以往產品10倍的(de)速度不間斷測試。
● 內置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測試(shi)時間
IM3523LCR測試儀產品特(te)點
在電容(rong)的測(ce)(ce)量(liang)條件中(zhong)希(xi)望以120Hz測(ce)(ce)量(liang)C-D。希(xi)望以100kHz測(ce)(ce)量(liang)ESR。這時，使(shi)用1臺告訴連續測(ce)(ce)量(liang)不同條件。
為了使用1臺LCR測試(shi)儀測量(liang)多(duo)種產品，要求高(gao)效率(lv)的更改設置。
IM3523的面(mian)板(ban)保存(cun)功能(neng)更，最多(duo)保存(cun)60組測(ce)量條件，還能(neng)保存(cun)128個開(kai)路(lu)/短路(lu)補(bu)償(chang)(chang)和(he)線長補(bu)償(chang)(chang)等的補(bu)償(chang)(chang)值。使用面(mian)板(ban)功能(neng)讀(du)取(qu)所(suo)保存(cun)的測(ce)量條件。除了手動讀(du)取(qu)以外，可以使用外部控制端口(kou)控制面(mian)板(ban)編號的讀(du)取(qu)，因此能(neng)縮短構筑自(zi)動化(hua)檢(jian)查產線的時間。
檢查4端子測(ce)量時樣品間(jian)的接觸不良。
測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻(zu)，如(ru)果在所設置的閾值以(yi)上時則顯(xian)示錯誤。
IM3523LCR測(ce)試儀選型指南
測量模式 | LCR,連續測(ce)試(shi) |
測量參數 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電(dian)阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
測量量程 | 100mΩ～100MΩ,10個量程(所有參數根據Z定義) |
可顯(xian)示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: |
基本(ben)精(jing)度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
測量頻率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
測量信號電平 | 正常模式 |
輸出阻抗(kang) | 正常模式：100Ω |
顯示 | 單色LCD |
測量時間 | 2ms(1kHz,FAST,代表值(zhi)) |
功能 | 比較器，分類測(ce)量(liang)(BIN功(gong)能(neng))，面板讀取/保存、存儲功(gong)能(neng) |
接(jie)口 | EXT I/O(處理器)，USB通(tong)信(高速) |
電源 | 100～240V AC，50/60Hz，最大50VA |
尺寸(cun)及重(zhong)量(liang) | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 電(dian)源線(xian)×1，使用說(shuo)明(ming)書×1，CD-R(包括PC指(zhi)令(ling)和樣本軟件(jian))×1 |
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