IM7587阻抗分析(xi)儀產品概述(shu) 可(ke)信賴的機(ji)型3GHz ● 測(ce)試電壓測(ce)量(liang)頻率：1MHz~3GHz ● 測(ce)量(liang)時(shi)(shi)間(jian)：較快0.5ms（模(mo)擬測(ce)量(liang)時(shi)(shi)間(jian)） ● 測(ce)量(liang)值偏(pian)差：0.07%（測(ce)量(liang)頻率1GHz時(shi)(shi)的代(dai)表值） ● 基本精度(du)：±0.65% rdg. ● 緊湊(cou)主機(ji)僅機(ji)架(jia)一半(ban)大小，測(ce)試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查(cha)（DCR測(ce)量(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波形判定） ● 分析(xi)模(mo)式下(xia)可(ke)以(yi)邊(bian)掃描測(ce)量(liang)頻率、測(ce)量(liang)信號電平邊(bian)
IM7585阻抗分(fen)析儀產品概述(shu) 高(gao)速、高(gao)穩定性(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，提(ti)高(gao)生(sheng)產量(liang)(liang)(liang)(liang)！測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)時間(jian)(jian)(jian)：較快0.5ms，測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)值(zhi)偏差0.07% ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)頻(pin)率(lv)(lv)：1MHz~1.3GHz ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)時間(jian)(jian)(jian)：較快0.5ms（模擬測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)時間(jian)(jian)(jian)） ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)值(zhi)偏差：0.07%（測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)頻(pin)率(lv)(lv)1GHz時的代表值(zhi)） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅(jin)機架(jia)一半大(da)小(xiao)，測(ce)(ce)試頭僅(jin)手掌大(da)小(xiao) ● 豐(feng)富的接觸檢查功能(neng)（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波形判定）
IM7583阻抗(kang)分析儀產品概(gai)述 高速(su)、高穩定性測量(liang)(liang)(liang)(liang)，提高生(sheng)產量(liang)(liang)(liang)(liang)！測量(liang)(liang)(liang)(liang)時(shi)間(jian)(jian)：較(jiao)快(kuai)(kuai)0.5ms ● 測量(liang)(liang)(liang)(liang)頻率：1MHz~600MHz ● 測量(liang)(liang)(liang)(liang)時(shi)間(jian)(jian)：較(jiao)快(kuai)(kuai)0.5ms（模擬測量(liang)(liang)(liang)(liang)時(shi)間(jian)(jian)） ● 基本(ben)精度：±0.65% rdg. ● 緊(jin)湊(cou)主機僅(jin)機架一半大(da)小，測試頭僅(jin)手掌大(da)小 ● 豐富的接觸檢(jian)查功能(neng)（DCR測量(liang)(liang)(liang)(liang)、Hi-Z篩選(xuan)、波形判定） ● 使用分析功能(neng)在掃描測量(liang)(liang)(liang)(liang)頻率、測量(liang)(liang)(liang)(liang)信號(hao)電(dian)平的同時(shi)進行測量(liang)(liang)(liang)(liang)
IM7581阻抗分(fen)析儀產品概述 較(jiao)快(kuai)0.5ms，覆蓋(gai)100kHz~300MHz的低頻(pin) ● 緊(jin)湊主(zhu)機僅機架一半大小(xiao)、測試頭僅手掌大小(xiao) ● 豐(feng)富的接觸檢查功(gong)能（DCR測量、Hi-Z篩(shai)選(xuan)、波形(xing)判(pan)定） ● 使用分(fen)析功(gong)能在(zai)掃描(miao)測量頻(pin)率(lv)、測量信(xin)號電平(ping)的同時進行測量
IM7580A阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)產品概述 較(jiao)快0.5ms，高(gao)(gao)速、高(gao)(gao)穩定測量(liang)(liang)(liang)，節省空間的半個機(ji)架大小(xiao) ● 測量(liang)(liang)(liang)頻(pin)率(lv)1MHz~300MHz ● 測量(liang)(liang)(liang)時間：較(jiao)快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(ji)僅機(ji)架一半大小(xiao)、測試(shi)頭僅手掌大小(xiao) ● 豐富(fu)的接(jie)觸檢查功(gong)能(neng)（DCR測量(liang)(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波形判(pan)定） ● 使(shi)用分析(xi)功(gong)能(neng)在掃描測量(liang)(liang)(liang)頻(pin)率(lv)、測量(liang)(liang)(liang)信號電(dian)平的同時進行測量(liang)(liang)(liang)
IM3590化學阻抗分析(xi)儀(yi)產品概述 用于測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)氣化學零件(jian)和材料/電(dian)(dian)池/EDLC（電(dian)(dian)氣雙層電(dian)(dian)容） ● 適用于離子運動(dong)和溶液電(dian)(dian)阻測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)，1mHz ～ 200kHz的(de)(de)(de)(de)寬范圍(wei)信號源 ● 1臺機器(qi)即可(ke)(ke)實現LCR測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)、掃描測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)(de)連續測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)和高(gao)速(su)(su)檢(jian)查(cha) ● 可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)池的(de)(de)(de)(de)無負載狀態產生的(de)(de)(de)(de)內部電(dian)(dian)阻 ● 較快2ms的(de)(de)(de)(de)高(gao)速(su)(su)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)，實現掃描測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)(de)高(gao)速(su)(su)化 ● 基本精度±0.05%，零件(jian)檢(jian)查(cha)到研究開(kai)發(fa)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)均可(ke)(ke)對應
IM3570阻抗(kang)分析儀(yi)產品(pin)概述 1臺儀(yi)器(qi)(qi)實(shi)現不(bu)同測(ce)(ce)量(liang)條件(jian)下的(de)高(gao)速檢查 ● 1臺儀(yi)器(qi)(qi)實(shi)現LCR測(ce)(ce)量(liang)、DCR測(ce)(ce)量(liang)、掃描測(ce)(ce)量(liang)等(deng)的(de)連續測(ce)(ce)量(liang)和高(gao)速檢查 ● LCR模(mo)式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的(de)高(gao)速測(ce)(ce)量(liang) ● 基本精度±0.08%的(de)高(gao)精度測(ce)(ce)量(liang) ● 適用(yong)于壓電(dian)元件(jian)的(de)共振特性(xing)檢查、功能(neng)性(xing)高(gao)分子(zi)電(dian)容的(de)C-D和低ESR測(ce)(ce)量(liang)，電(dian)感器(qi)(qi)（線(xian)圈(quan)、變壓器(qi)(qi)）的(de)DCR和L-Q的(de)測(ce)(ce)量(liang)
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