3504-60C測試儀產品概述封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試● 查出全機測量中(zhong)的(de)接觸錯(cuo)誤，提高成品率
更新時間(jian)：2018-07-26
3504-60C測(ce)試儀(yi)產品概述
封裝機(ji)(ji)、分(fen)選機(ji)(ji)、電容器的合格(ge)與否的判斷和等級分(fen)類等
● 高速(su)測量(liang)2ms
● 能根據C 和(he)D （損耗系數*2）的(de)測量值，進行被測物合(he)格與否的(de)判斷(duan)
● 對(dui)應測試線，比(bi)較器(qi)功能(neng)/觸發(fa)輸(shu)出功能(neng)
● 3504-60/-50用BIN的分(fen)選接口進行被測物體(ti)的測試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低(di)成本的測試
● 查(cha)出(chu)全(quan)機(ji)測量中的(de)接觸錯誤(wu)，提高成品率(lv)
3504-60C測試儀產品(pin)概述
封裝機、分(fen)選機、電容器的合格與否的判斷和等(deng)級分(fen)類(lei)等(deng)
● 高速測量2ms
● 能根據C 和D （損耗系數*2）的(de)測量值(zhi)，進行被(bei)測物合格與否的(de)判斷(duan)
● 對應測試線，比較器功能/觸發(fa)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的(de)分選接(jie)口進行被測(ce)物(wu)體的(de)測(ce)試
● 3504-40記錄(lu)工具，實(shi)現(xian)高速/低成本的測試(shi)
● 查出全機(ji)測量中的接(jie)觸錯誤，提高成品率
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