IM3523LCR測(ce)試(shi)(shi)儀產(chan)(chan)品(pin)(pin)概述(shu) 應(ying)用(yong)于生產(chan)(chan)線和(he)自動化測(ce)試(shi)(shi)領域(yu)的(de)(de)理想(xiang)選擇 ● 基(ji)本(ben)精度(du)±0.05％，測(ce)量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和(he)ESR這樣(yang)的(de)(de)混合測(ce)量條件(jian)下，可以(yi)以(yi)往產(chan)(chan)品(pin)(pin)10倍(bei)的(de)(de)速度(du)不間斷測(ce)試(shi)(shi)。 ● 內(nei)置比較(jiao)器和(he)BIN功能 ● 2ms的(de)(de)快速測(ce)試(shi)(shi)時間
3511-50LCR測(ce)試儀(yi)產品概(gai)述 精(jing)巧(qiao)，非常專業，5ms快速測(ce)量LCR ● 高速測(ce)量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精(jing)度： ± 0.08% ● 內置比較器
3506-10C測(ce)(ce)試儀產品概述 對應1MHz測(ce)(ce)試, 低容量(liang)(liang),高精度(du),高速(su)測(ce)(ce)試 ● 模(mo)擬測(ce)(ce)量(liang)(liang)時間0.6ms（1MHz）的(de)高速(su)測(ce)(ce)量(liang)(liang) ● 提高了抗干擾性，在產線的(de)上(shang)也能(neng)實現(xian)高反復精度(du) ● 1kHz、1MHz測(ce)(ce)量(liang)(liang)下，低電容的(de)貼片時可穩定測(ce)(ce)量(liang)(liang) ● 根據BIN的(de)測(ce)(ce)定區分容量(liang)(liang)
3504-60C測試儀產品概述(shu) 封裝機(ji)、分選(xuan)機(ji)、電容器的合(he)格與否的判斷和等(deng)級(ji)分類等(deng) ● 高速測量2ms ● 能根(gen)據C 和D （損耗系數(shu)*2）的測量值，進(jin)行(xing)被測物(wu)合(he)格與否的判斷 ● 對(dui)應測試線，比較器功能/觸發輸(shu)出(chu)功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選(xuan)接(jie)口(kou)進(jin)行(xing)被測物(wu)體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shi)現高速/低成本的測試 ● 查出(chu)全機(ji)測量中的接(jie)觸錯(cuo)誤，提高成品率
3504-50C測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)產品(pin)概(gai)述 封(feng)裝(zhuang)機、分選機、電容(rong)器(qi)(qi)的合格與否的判(pan)斷和等(deng)級分類等(deng) ● 高(gao)速測(ce)(ce)量(liang)2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測(ce)(ce)量(liang)值，進行(xing)被測(ce)(ce)物合格與否的判(pan)斷 ● 對(dui)應(ying)測(ce)(ce)試(shi)線，比較器(qi)(qi)功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行(xing)被測(ce)(ce)物體的測(ce)(ce)試(shi) ● 3504-40記錄工具，實現高(gao)速/低成本的測(ce)(ce)試(shi)
3504-40C測(ce)(ce)試儀(yi)產品概述 封裝(zhuang)機(ji)、分(fen)選機(ji)、電容(rong)器的(de)(de)(de)合格(ge)與(yu)否(fou)的(de)(de)(de)判斷和等級分(fen)類等 ● 高速測(ce)(ce)量2ms ● 能(neng)根據C 和D （損耗系數*2）的(de)(de)(de)測(ce)(ce)量值，進(jin)(jin)行被測(ce)(ce)物(wu)合格(ge)與(yu)否(fou)的(de)(de)(de)判斷 ● 對應測(ce)(ce)試線，比較器功(gong)能(neng)/觸發輸出功(gong)能(neng) ● 3504-60/-50用(yong)BIN的(de)(de)(de)分(fen)選接口(kou)進(jin)(jin)行被測(ce)(ce)物(wu)體的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試 ● 3504-40記錄(lu)工(gong)具，實現高速/低(di)成(cheng)本的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試 ● 查(cha)出全機(ji)測(ce)(ce)量中的(de)(de)(de)接觸錯誤，提(ti)高成(cheng)品率
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