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ATX-100導通線束測試儀技術參數
點擊次數:939 更新時間:2020-09-25

ATX-100導通線(xian)束測試(shi)儀

ATX-64導通線束測(ce)試(shi)儀

ATX-128導通線束測試儀

ATX-256導通(tong)線束測(ce)試儀

ATX-512導(dao)通線束測試儀

•設(she)備采用(yong)5寸/10寸多點式(shi)電容觸(chu)摸屏
•高速的通斷(duan)測試(shi)
•模塊化設計(ji)平滑升級,可擴展
•RS232,USB等(deng)接(jie)口可(ke)供選擇

簡(jian)介(jie):

ATX-100系(xi)列是一款高速的導通(tong)線束測(ce)試(shi)儀,測(ce)試(shi)通(tong)道可靈活擴展。兼容(rong)智能(neng)化測(ce)試(shi)軟(ruan)件及大型(xing)數據(ju)庫,幫助(zhu)客戶進行數據(ju)對(dui)比分析(xi)。每次開機(ji)系(xi)統自檢,以確保(bao)測(ce)試(shi)系(xi)統準確、可靠運行。

功(gong)能(neng)特點:

•設備采用5寸(cun)/10寸(cun)多點(dian)式電(dian)容(rong)觸(chu)摸屏

•高速的(de)通(tong)斷測(ce)試

•模塊(kuai)化設計平滑升級(ji),可擴展

•RS232,USB等(deng)接口可供選擇

應用:

• 用于現(xian)場線束搶修,維護,測試等工作

• 用(yong)于現場分布式線(xian)纜測試

• 用于航(hang)空、火(huo)箭(jian)等(deng)航(hang)空航(hang)天(tian)科學領域測(ce)試

• 用于船舶、兵器等(deng)科學領域測試

• 用于汽車線束測試

產(chan)品規格(ATX-100)

產(chan)品型號(hao)

ATX-64

ATX-128

ATX-256

ATX-512

大測試點數

64

128

256

512

大回路數(shu)

32

64

128

256

檢(jian)查端(duan)口數量

1

2

4

8

檢(jian)測端口類型

歐(ou)姆龍(long)64PIN卡扣(kou)式牛角插座(XG4A-6434)

存儲(chu)測試數據量

可存(cun)儲19297個(ge)測試方案,存(cun)儲測試數(shu)據30000000條(tiao)

測試內(nei)容

通斷測(ce)試

瞬斷測試(shi)

PinSearch 

系(xi)統自檢(jian)

用戶界面

表示方式(shi)

5寸(cun)多點式(shi)電容觸摸屏(分辨(bian)率(lv)800*480)/10寸(cun)多點式(shi)電容觸摸屏(分辨(bian)率(lv)1280*800)

操作(zuo)方法

觸摸屏操作(可外接鼠標、鍵(jian)盤)

操(cao)作系統

Android

語言(yan)

簡體中文、英文

存儲端口

USB

無線通(tong)信端口

內置(zhi)WIFI,BT4.0(標配)

以太(tai)網端(duan)口

1個,10/100M自適應以太網

顯(xian)示設備端口

HDMI

控制端口

USB

RTC實時時鐘

支持

RTC電池

使用壽命(ming)3年

打印機

普(pu)通打印機:HP LaserJet Pro MFP M426f-M427f等(WIFI連接)

標簽打印機:佳博(Gprinter)1134T等

(BT連接)

掃碼槍(qiang)

ST2200有線(xian)二維(wei)影(ying)像掃描槍(接口:RS232)

輸出信號(hao)

PASS

觸點容(rong)量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

FAIL

觸點(dian)容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

輸出信(xin)號周期

200ms±4ms

輸入信號

外部觸發(fa)

觸(chu)發點(dian)輸入50ms以上(shang)的連接(短路)狀態

數據保存時(shi)間

5年以上,溫(wen)度-20℃~50℃ ,濕度40%的環境

供電電壓

AC100V-240V/50~60Hz

外形尺寸(寬*高(gao)*深)

350*143*336mm

492*295*265mm

重量

約6.05Kg

約6.15Kg

約(yue)6.25Kg

約7.8Kg

環境條件

工作溫(wen)(wen)度(du):0~45℃;存儲溫(wen)(wen)度(du):-20℃~50℃;工作濕度(du):5%~70%RH,無冷凝

檢測規格/參數

通(tong)斷測試

檢測電壓

DC3.3Vmax±5%

檢測電(dian)流

0.06mAmax±5%

線間(jian)電容量

大100nF(默認10nF),±10%

通斷判(pan)定電(dian)阻值

導通:38kΩ以下    非導通:42kΩ以上

瞬斷測試(shi)

(64)

檢測次數

2~999次

瞬斷檢(jian)測寬度

50ms~4s

檢測時間

2*50ms~999*4s(或到停止測(ce)試按鈕按下為止)

訂購信息:  

• ATX-64 :64點導通線(xian)束測試儀(yi)

• ATX-128:128點導通線(xian)束測試儀

• ATX-256:256點導通線束測試儀(yi)

• ATX-512:512點導通線束測試儀

備注:更多通道可快速擴(kuo)展

選配(pei)附件:

• RS232、USB等(deng)接(jie)口及程控軟件

• 轉(zhuan)接箱、轉(zhuan)接板(ban)

• 打點機

• 低壓測試(shi)線