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YF2810B LCR數字電(dian)橋采用*的(de)(de)(de)(de)高(gao)精度(du)電(dian)橋測試(shi)原理，儀(yi)器(qi)的(de)(de)(de)(de)所有(you)(you)控(kong)制(zhi)、測量(liang)、計算(suan)和(he)顯(xian)示均在MCU的(de)(de)(de)(de)控(kong)制(zhi)下進行，使儀(yi)器(qi)具(ju)有(you)(you)精度(du)高(gao)、動態范(fan)圍寬(kuan)、速度(du)快、穩(wen)定性好(hao)的(de)(de)(de)(de)特點。0.1%的(de)(de)(de)(de)基本(ben)精度(du)和(he)高(gao)分辨率的(de)(de)(de)(de)顯(xian)示對于(yu)元件的(de)(de)(de)(de)質量(liang)和(he)可靠性的(de)(de)(de)(de)提高(gao)將(jiang)有(you)(you)莫大的(de)(de)(de)(de)幫助。本(ben)儀(yi)器(qi)可廣(guang)泛用于(yu)工廠、院校、研究所、計量(liang)質檢(jian)部門等對各類(lei)電(dian)感、電(dian)容和(he)電(dian)阻(zu)元器(qi)件的(de)(de)(de)(de)參數進行精確測量(liang)、批量(liang)分選等方(fang)面(mian)的(de)(de)(de)(de)需要(yao)。
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