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ATX-512S導通線束測試儀技術參數
點擊次數:804 更新時間:2020-09-25

ATX-100S系列導通線束測試儀

 
設備采用(yong)5寸多(duo)點式電容(rong)觸(chu)摸(mo)屏
高速的通斷測試
支持電阻,二極管元(yuan)器件(jian)測試
模塊化設計平滑升級,可(ke)擴(kuo)展
聯(lian)機多臺測試,可(ke)協調工作
RS232,USB等接口可(ke)供(gong)選擇
簡介:
ATX-100S系(xi)列是一款高速的導通(tong)線束測(ce)試(shi)儀,可(ke)進(jin)行(xing)電阻,二極管器(qi)件測(ce)試(shi),測(ce)試(shi)通(tong)道可(ke)靈活(huo)擴展。兼容(rong)智能(neng)化測(ce)試(shi)軟件及大型數據(ju)庫,幫助客(ke)戶進(jin)行(xing)數據(ju)對比(bi)分析(xi)。每(mei)次開機系(xi)統(tong)自檢,以(yi)確保測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)準確、可(ke)靠運行(xing)。
功能(neng)特點(dian):
設備采用5寸多點(dian)式電容觸摸屏
高速的通斷測(ce)試
支持電阻,二極管元器件測試
模塊(kuai)化設(she)計平滑(hua)升(sheng)級,可擴(kuo)展
聯機多(duo)臺測試,可協調工作
RS232,USB 等接(jie)口可供選擇
應用:
 用于現場線束搶修,維護(hu),測試等工作
 用于現場分布式線纜測試(shi)
 用于(yu)航(hang)空(kong)、火箭等航(hang)空(kong)航(hang)天科(ke)學領域測(ce)試
 用于船舶(bo)、兵器等科學領域測試
 用于汽(qi)車線(xian)束測試

產品(pin)規格(ATX-100S)
產品(pin)型號ATX-64SATX-128SATX-256SATX-512S
大(da)測試(shi)點數(shu)64128256512
大回路數(shu)3264128256
檢查(cha)端(duan)口數量1248
檢測端口類型歐姆龍(long)64PIN卡(ka)扣式牛角插座(zuo)(XG4A-6434)
存(cun)儲(chu)測試數據量可(ke)存儲19297個(ge)測(ce)試(shi)(shi)方案,存儲測(ce)試(shi)(shi)數據30000000條
測試內容通斷(duan)測試
自學習(xi)測(ce)試
電阻測試
二極管測試(shi)
瞬斷(duan)測試
PinSearch
系統自檢(jian)
用戶界面表示方式(shi)5寸多(duo)點式電(dian)容觸摸屏(分辨率(lv)800*480)
操(cao)作方法觸摸(mo)屏(ping)操作(可(ke)外接鼠(shu)標、鍵盤)
操作系(xi)統Android
語言簡體中文、英文
存儲(chu)端口USB
無(wu)線通信(xin)端口內置WIFI,BT4.0(標配)
以(yi)太網端口1個,10/100M自適應以太網
顯示設備端口HDMI
控(kong)制端口USB
RTC實(shi)時時鐘支持
RTC電池使用壽命3年
打印機(ji)普通打印機:HP LaserJet Pro MFP M426f-M427f等(WIFI連接)標簽(qian)打印機:佳(jia)博(bo)(Gprinter)1134T等
(BT連接)
掃碼(ma)槍ST2200有線二維影像(xiang)掃描槍(接口:RS232)
輸(shu)出信號PASS觸點容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC
FAIL觸(chu)點容量(liang):5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC
輸(shu)出信號周期200ms±4ms
輸入信號外部觸(chu)發(fa)觸發(fa)點輸入(ru)50ms以上的連接(短(duan)路)狀態
數據保存時間5年以上,溫度(du):-20℃~50℃ ,濕(shi)度(du):40%
供電(dian)電(dian)壓(ya)AC100V-240V/50~60Hz
外形尺(chi)寸 (寬*高*深)365*163*363mm
主機重量(liang)約6.15Kg約6.25Kg約6.45Kg約(yue)6.45Kg
環境條件工作(zuo)溫(wen)(wen)度:0~45℃;存儲(chu)溫(wen)(wen)度:-20℃~50℃;工作(zuo)濕度:5%~70%RH,無冷凝
檢測規格/參數
通斷測試檢(jian)測(ce)電(dian)壓不大于10V,±5%
檢測電流不大于(yu)1mA,±5%
通斷判定電阻值比較(jiao)模式:100Ω~100kΩ;±5%
電(dian)阻(zu)測(ce)試模式:10Ω~100Ω,100kΩ~1MΩ,±1%
瞬斷測試(shi)
(64)
檢(jian)測(ce)次數2~999次
瞬斷檢測寬度2.5s~6s
檢測時間2*2.5s~999*6s(或到停(ting)止測試按鈕(niu)按下為止)
電子元(yuan)件
測試
電阻(zu)測試不大于(yu)100Ω,±1%±3Ω(需標定)
100Ω~1MΩ,±1%
二(er)極管(guan)
測試(shi)
檢測(ce)電壓不大于10V,±10%
檢測(ce)電流不大于1mA

訂購信息:  
ATX-64S :64點導通線束測(ce)試儀
ATX-128S:128點導(dao)通(tong)線束(shu)測試儀
ATX-256S:256點(dian)導通線束測試儀
ATX-512S:512點導通(tong)線(xian)束測(ce)試儀
備注:更多通道可快(kuai)速(su)擴展
選(xuan)配附件:
RS232、USB等接口及程控軟件
轉接箱、轉接板(ban)
打點機
低壓測(ce)試線(xian)