美(mei)國TEGAM R1L-BR便攜式(shi)微歐計,R1L-BR接觸電(dian)阻測(ce)試儀(yi) 特點： 低成本：（R1L-B） 便攜：長時間(jian)待機充(chong)電(dian)電(dian)池(chi) 量程：2 mΩ 至 20 Ω 精度：讀數(shu)的 0.25% 分辨率：1 µΩ 操作(zuo)簡(jian)單 堅(jian)固盒裝(zhuang)
美國TEGAM R1L-BR1便攜(xie)式微歐計,R1L-BR1接觸電(dian)阻測(ce)試儀具有以(yi)下(xia)特點： ?便攜(xie)：長(chang)時(shi)間(jian)待機(ji)充電(dian)電(dian)池 ?量程：2 mΩ 至 20 Ω ?精度：讀數的 0.25% ?分辨率：1 µΩ ?操(cao)作簡單 ?堅固盒裝
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