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射(she)頻(pin)輻(fu)射(she)抗擾度(du)（RS） 產(chan)品(pin)概述： 電(dian)(dian)臺、固(gu)定或(huo)移動式無(wu)線電(dian)(dian)發射(she)臺、手(shou)持電(dian)(dian)話等(deng)都可能成為(wei)電(dian)(dian)磁(ci)場(chang)輻(fu)射(she)源，干擾電(dian)(dian)子設備(bei)的正常工(gong)作。射(she)頻(pin)輻(fu)射(she)抗擾度(du)試(shi)驗通過模擬一(yi)定強度(du)的電(dian)(dian)磁(ci)輻(fu)射(she)環境，考察被試(shi)設備(bei)的電(dian)(dian)磁(ci)場(chang)輻(fu)射(she)抗擾度(du)能力。
射頻傳(chuan)(chuan)導(dao)抗(kang)擾(rao)度(du)（CS） 產品概述： 對于低頻（150kHz-80MHz/230MHz）的射頻信(xin)號，由于其波長(chang)比EUT尺寸要(yao)長(chang)得多，EUT的互連電(dian)纜（包括電(dian)源線和電(dian)纜線）比EUT本身更(geng)容易成為天線而接受電(dian)磁場，因此射頻抗(kang)擾(rao)度(du)試驗(yan)的低頻部分(fen)，采用(yong)傳(chuan)(chuan)導(dao)測(ce)試方式(shi)更(geng)直接。
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