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主要特色：
LED driver為電(dian)流源，因此有一(yi)可輸(shu)(shu)出的(de)電(dian)壓範圍(wei)及一(yi)固定的(de)輸(shu)(shu)出電(dian)流。在LED driver的(de)測試上，一(yi)般常使用的(de)方(fang)式有下列幾(ji)種：
但是這些測試(shi)方式都有其(qi)缺點(dian)，無法*適(shi)合LED driver的測試(shi)需求。
由LED的(de)(de)V-I特性(xing)(xing)曲線中(zhong)，可(ke)知LED有一順向偏(pian)壓VF及一導(dao)通電阻(zu)(Rd)。當以(yi)(yi)真實(shi)電阻(zu)為負載，其V-I特型(xing)是一直(zhi)線，並無法(fa)(fa)模(mo)擬(ni)LED的(de)(de)特性(xing)(xing)。尤其當LED driver開(kai) 電壓上(shang)升時，電流波形不(bu)(bu)同(tong)，可(ke)能會無法(fa)(fa)開(kai) 。而傳統(tong)電子負載的(de)(de)CR及CV模(mo)式(shi)，都是以(yi)(yi)穩態時的(de)(de)LED操作點為設(she)定值，對開(kai)關機(ji)或PWM調光(guang)動態的(de)(de)特性(xing)(xing)，無法(fa)(fa)模(mo)擬(ni)，也可(ke)能導(dao)致LED driver產生不(bu)(bu)正常的(de)(de)動作或保護。而若以(yi)(yi)LED來當負載，雖能*測試LED driver。但卻有LED老化問(wen)題，及LED driver不(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)輸出(chu)電壓測試上(shang)，需(xu)串聯不(bu)(bu)同(tong)顆數的(de)(de)LED，如(ru)此將會造成測試上(shang)與生產上(shang)的(de)(de)不(bu)(bu)便(bian)。
致茂(mao)6310A series電子負載(zai)中的(de)63110A獨(du)家新(xin)創了(le)一個新(xin)的(de)操作模(mo)式—LED模(mo)式，來模(mo)擬(ni)LED。使(shi)用者僅需透過設(she)定(ding)LED driver的(de)輸出(chu)電壓、電流(liu)，即(ji)可模(mo)擬(ni)LED的(de)拉載(zai)特性。還(huan)可設(she)定(ding)LED的(de)操作點(dian)阻抗(kang)及高(gao)頻(pin)阻抗(kang)，讓(rang)拉載(zai)電流(liu)及高(gao)頻(pin)連波(bo)與(yu)更趨近(jin)於(wu)真(zhen)實LED。對於(wu)PWM調光(Dimming)測(ce)試(shi)，63110A的(de)全新(xin)設(she)計中，亦增加了(le)頻(pin)寬，讓(rang)使(shi)用者亦可透過電子負載(zai)完成動態調光測(ce)試(shi)。
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