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19500局部放電測試器技術參數
點擊次數：873 更新時間：2020-08-07

19501-k局部放電測試(shi)器(qi)

19500局部放電測試器(qi)

主要特(te)色：

  • 單機(ji)內建高(gao)電壓(ya)耐壓(ya)測試(shi)與PD偵測功能
  • 可程式(shi)交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
  • 高(gao)精度及高(gao)解析度電流錶 0.01uA ~ 300uA
  • 局部放電(PD)偵測範圍 1 pC ~ 2000 pC
  • 高壓接觸檢查功(gong)能(HVCC)
  • 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規測(ce)試要求
  • 內建IEC60747-5-5 測試(shi)方法
  • 三(san)段(duan)電壓測試(shi)功能
  • PD測量結果數字化顯(xian)示(pC)
  • PD 不良發生(sheng)判定次數(shu)設定 (1~10)
  • 繁中(zhong)/ 簡中(zhong) / 英(ying)文操作介(jie)面
  • USB畫面(mian)擷取功能
  • 圖(tu)形化輔助(zhu)編輯功能
  • 標準(zhun)LAN, USB, RS232遠端控制介面

Chroma 19501-K 局(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)測試(shi)(shi)器(qi)結合(he)高電(dian)(dian)壓(ya)耐壓(ya)測試(shi)(shi)與(yu)局(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(Partial Discharge)偵(zhen)(zhen)測功能(neng)於一單機，提(ti)供交(jiao)流(liu)電(dian)(dian)壓(ya)輸出大10kV，漏(lou)電(dian)(dian)流(liu)量(liang)測範圍從(cong)0.01uA~300uA，局(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)偵(zhen)(zhen)測範圍小可(ke)偵(zhen)(zhen)測1pC放(fang)(fang)電(dian)(dian)量(liang)，針對高壓(ya)半導體元(yuan)件及高絕緣材料測試(shi)(shi)應用(yong)所(suo)開發。產品設計符合(he)IEC 60270-1與(yu)IEC60747-5-5法(fa)規要求，同時內建IEC 60747-5-5法(fa)規之測試(shi)(shi)方法(fa)在儀器(qi)內部(bu)，滿足光耦合(he)器(qi)產品生(sheng)產測試(shi)(shi)需求，並提(ti)供給使用(yong)者一個(ge)便利操(cao)作介(jie)面.

在生產線(xian)上執行高壓測(ce)(ce)試(shi)時，如果(guo)被(bei)(bei)測(ce)(ce)物(wu)未能正確及(ji)良好連接(jie)測(ce)(ce)試(shi)線(xian)，將導致測(ce)(ce)試(shi)結果(guo)失敗甚至是漏(lou)測(ce)(ce)的風險(xian)。因此，在測(ce)(ce)試(shi)前確保被(bei)(bei)測(ce)(ce)物(wu)與測(ce)(ce)試(shi)線(xian)良好連接(jie)是非常重要的。Chroma 獨特之(zhi)(zhi)HVCC高壓接(jie)觸(chu)(chu)檢查功能(High Voltage Contact Check)，利(li)用Kelvin測(ce)(ce)試(shi)方法針對高絕(jue)緣能力之(zhi)(zhi)元件於高壓輸出(chu)時同(tong)步進行接(jie)觸(chu)(chu)檢查，提升其測(ce)(ce)試(shi)可靠(kao)度與效率。