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19501-k局部放電測試器技術參數
點擊次數：1384 更新時間：2020-08-07

19501-k局部放電測試器

19500局部放電(dian)測試(shi)器

主要特(te)色：

  • 單機內建高電壓耐壓測(ce)試與PD偵測(ce)功能
  • 可程式(shi)交(jiao)流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
  • 高(gao)精度及高(gao)解析度電流錶 0.01uA ~ 300uA
  • 局部放電(PD)偵測範圍 1 pC ~ 2000 pC
  • 高(gao)壓接觸(chu)檢查功能(HVCC)
  • 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規(gui)測試要求
  • 內建IEC60747-5-5 測試方法
  • 三段電壓測試功(gong)能
  • PD測量結果數字化顯示(pC)
  • PD 不(bu)良發生判定次數(shu)設定 (1~10)
  • 繁中/ 簡中 / 英文操(cao)作介(jie)面
  • USB畫面(mian)擷取功能
  • 圖(tu)形化輔助編輯功能
  • 標準LAN, USB, RS232遠端控(kong)制(zhi)介面

Chroma 19501-K 局(ju)(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)測(ce)試(shi)器(qi)結合高電(dian)(dian)(dian)壓耐(nai)壓測(ce)試(shi)與局(ju)(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)(Partial Discharge)偵測(ce)功能於(wu)一單機，提供交流電(dian)(dian)(dian)壓輸出大(da)10kV，漏電(dian)(dian)(dian)流量(liang)測(ce)範(fan)圍從(cong)0.01uA~300uA，局(ju)(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)偵測(ce)範(fan)圍小可偵測(ce)1pC放(fang)電(dian)(dian)(dian)量(liang)，針對(dui)高壓半導體元件(jian)及高絕緣(yuan)材料測(ce)試(shi)應用所開發。產(chan)(chan)品設計符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(gui)要求(qiu)(qiu)，同時內建(jian)IEC 60747-5-5法規(gui)之測(ce)試(shi)方法在儀器(qi)內部(bu)，滿足光(guang)耦合器(qi)產(chan)(chan)品生產(chan)(chan)測(ce)試(shi)需求(qiu)(qiu)，並提供給使用者一個(ge)便利操作介面.

在生產線(xian)上執行(xing)高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時(shi)，如果被測(ce)(ce)物未能正確(que)及(ji)良(liang)好(hao)連接測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)線(xian)，將導致測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果失敗甚至是漏測(ce)(ce)的(de)(de)風險。因此，在測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)前(qian)確(que)保被測(ce)(ce)物與測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)線(xian)良(liang)好(hao)連接是非常重要(yao)的(de)(de)。Chroma 獨特之HVCC高(gao)壓(ya)接觸(chu)檢(jian)查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方法針對高(gao)絕緣能力之元件於高(gao)壓(ya)輸(shu)出時(shi)同步進行(xing)接觸(chu)檢(jian)查，提(ti)升其測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)可靠度與效率。