產品列表PRODUCTS LIST
設(she)備采用5寸(cun)多點式電容(rong)觸摸屏
高速的通斷測試(shi)
支持電阻，二極管元器件測試
模塊(kuai)化設計平滑升級，可擴展
聯機(ji)多臺測試，可協(xie)調工作
RS232，USB等接口可供選擇(ze)
簡介：
ATX-100S系(xi)列(lie)是一款高速的導通(tong)線束(shu)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)，可進行(xing)(xing)電(dian)阻，二極管器件測(ce)(ce)試(shi)，測(ce)(ce)試(shi)通(tong)道可靈活擴展(zhan)。兼(jian)容智能(neng)化測(ce)(ce)試(shi)軟(ruan)件及大(da)型數(shu)據庫，幫助客戶進行(xing)(xing)數(shu)據對比分析。每次開機系(xi)統自檢，以確保測(ce)(ce)試(shi)系(xi)統準確、可靠運行(xing)(xing)。
功(gong)能特點：
設備采用5寸多點式電容觸摸屏
高(gao)速的(de)通斷測試(shi)
支持電阻，二極管元器件(jian)測試
模塊化設計平滑(hua)升級(ji)，可擴展(zhan)
聯機多(duo)臺測試，可協調工作
RS232，USB 等接口可供選擇
應用(yong)：
用于現(xian)場(chang)線束搶修，維護，測試等工(gong)作
用于(yu)現(xian)場分布式線纜(lan)測試
用于航(hang)空(kong)、火箭等(deng)航(hang)空(kong)航(hang)天(tian)科學領域測試
用(yong)于船(chuan)舶、兵器等(deng)科學領域測試
用于汽車線(xian)束測試
| 產品規格（ATX-100S） | |||||||
| 產品(pin)型號 | ATX-64S | ATX-128S | ATX-256S | ATX-512S | |||
| 大測試點數(shu) | 64 | 128 | 256 | 512 | |||
| 大回路數 | 32 | 64 | 128 | 256 | |||
| 檢查端口數量 | 1 | 2 | 4 | 8 | |||
| 檢測端口類型 | 歐姆龍64PIN卡扣式(shi)牛角插座(zuo)（XG4A-6434） | ||||||
| 存儲(chu)測(ce)試數(shu)據量 | 可存(cun)(cun)儲(chu)19297個測(ce)試(shi)方(fang)案，存(cun)(cun)儲(chu)測(ce)試(shi)數據30000000條(tiao) | ||||||
| 測試內容 | 通斷測試 | √ | |||||
| 自學習測試 | √ | ||||||
| 電(dian)阻(zu)測(ce)試 | √ | ||||||
| 二極管測試 | √ | ||||||
| 瞬斷(duan)測(ce)試 | √ | ||||||
| PinSearch | √ | ||||||
| 系統自檢 | √ | ||||||
| 用(yong)戶界面 | 表(biao)示方式 | 5寸多點式電容觸摸屏（分(fen)辨(bian)率800*480） | |||||
| 操作方法(fa) | 觸摸(mo)屏操作（可外(wai)接鼠(shu)標(biao)、鍵盤） | ||||||
| 操(cao)作系(xi)統 | Android | ||||||
| 語言(yan) | 簡(jian)體中文(wen)、英文(wen) | ||||||
| 存儲端口 | USB | ||||||
| 無線(xian)通信端口 | 內置WIFI，BT4.0（標配(pei)） | ||||||
| 以太網端口 | 1個，10/100M自適(shi)應(ying)以太網 | ||||||
| 顯示設備端口 | HDMI | ||||||
| 控制端口 | USB | ||||||
| RTC實時(shi)時(shi)鐘 | 支持 | ||||||
| RTC電池 | 使用壽命(ming)3年 | ||||||
| 打(da)印(yin)機 | 普(pu)通打印機(ji)：HP LaserJet Pro MFP M426f-M427f等（WIFI連接(jie)） | 標(biao)簽打印機：佳(jia)博(bo)（Gprinter）1134T等 （BT連(lian)接(jie)） | |||||
| 掃碼槍 | ST2200有線二維影像掃(sao)描槍（接口(kou)：RS232） | ||||||
| 輸出信號(hao) | PASS | 觸(chu)點容(rong)量：5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC | |||||
| FAIL | 觸(chu)點容量：5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC | ||||||
| 輸(shu)出(chu)信號周期(qi) | 200ms±4ms | ||||||
| 輸入信號 | 外部觸發 | 觸發點輸(shu)入50ms以(yi)上的連接（短路）狀態 | |||||
| 數據保存時間 | 5年以(yi)上，溫度(du)：-20℃~50℃ ，濕度(du)：40% | ||||||
| 供電(dian)電(dian)壓 | AC100V-240V/50~60Hz | ||||||
| 外形(xing)尺(chi)寸 (寬(kuan)*高*深) | 365*163*363mm | ||||||
| 主機重(zhong)量(liang) | 約6.15Kg | 約6.25Kg | 約6.45Kg | 約6.45Kg | |||
| 環(huan)境條件(jian) | 工作溫(wen)度(du)：0~45℃；存儲溫(wen)度(du)：-20℃~50℃；工作濕度(du)：5%～70%RH，無(wu)冷凝 | ||||||
| 檢測規格/參數 | |||||||
| 通斷測(ce)試 | 檢測電壓 | 不大于10V，±5% | |||||
| 檢測電流 | 不(bu)大于(yu)1mA，±5% | ||||||
| 通斷判定電阻(zu)值(zhi) | 比較模式：100Ω~100kΩ；±5% 電阻測試模式：10Ω~100Ω，100kΩ~1MΩ，±1% | ||||||
| 瞬斷(duan)測試 （64） | 檢(jian)測次數 | 2~999次(ci) | |||||
| 瞬(shun)斷檢測(ce)寬度(du) | 2.5s~6s | ||||||
| 檢測時(shi)間 | 2*2.5s~999*6s（或(huo)到停止測(ce)試按(an)鈕按(an)下為(wei)止） | ||||||
| 電子元件 測試 | 電阻測試 | 不大于100Ω，±1%±3Ω（需標定） | |||||
| 100Ω~1MΩ，±1% | |||||||
| 二(er)極管 測試 | 檢測(ce)電壓 | 不大(da)于10V，±10% | |||||
| 檢測電流 | 不大于1mA | ||||||
訂購信息(xi)：
ATX-64S ：64點導通線束測試儀(yi)
ATX-128S：128點導通線束測試儀
ATX-256S：256點導通(tong)線束測試儀
ATX-512S：512點導通線束(shu)測(ce)試儀
備(bei)注(zhu)：更多通道可快(kuai)速(su)擴展
選(xuan)配附件：
RS232、USB等接口及(ji)程(cheng)控軟件
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