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ATX-100S系列導通線束測試儀技術參數
點擊次數:981 更新時間:2020-09-24

ATX-100S系列導通線束測試儀

•設備(bei)采用5寸多點式電容觸摸(mo)屏
•高速的通斷測試(shi)
•支(zhi)持電阻,二(er)極管元器件測試
•模塊化設計平滑升級,可(ke)擴展
•聯(lian)機多臺測(ce)試,可(ke)協調工(gong)作
•RS232,USB等接口可供選擇(ze)簡介:

ATX-100S系(xi)列(lie)是一款高速的導通線束測試儀,可(ke)進(jin)行(xing)電(dian)阻,二極管器件(jian)測試,測試通道可(ke)靈活擴展。兼容(rong)智能化測試軟(ruan)件(jian)及大型數(shu)據(ju)庫(ku),幫助客(ke)戶(hu)進(jin)行(xing)數(shu)據(ju)對比(bi)分析。每次開機系(xi)統自(zi)檢,以確(que)保測試系(xi)統準(zhun)確(que)、可(ke)靠運(yun)行(xing)。

功能特點:

•設(she)備采(cai)用(yong)5寸多點式電容觸摸屏

•高速的通斷測試(shi)

•支持電阻,二極管元器件測試

•模(mo)塊化設計平滑升級,可擴展(zhan)

•聯機多(duo)臺(tai)測試,可(ke)協調工(gong)作

•RS232,USB 等(deng)接(jie)口可供選擇

應(ying)用:

• 用于現場(chang)線束(shu)搶修,維護,測試等工作(zuo)

• 用(yong)于現(xian)場分布式線纜測(ce)試

• 用于航空、火箭等航空航天科(ke)學領域測試

• 用于船舶、兵器等科學(xue)領(ling)域(yu)測試(shi)

• 用于汽車線(xian)束測試

產品規(gui)格(ATX-100S)

產品型(xing)號

ATX-64S

ATX-128S

ATX-256S

ATX-512S

大測試點數

64

128

256

512

大(da)回(hui)路數(shu)

32

64

128

256

檢查端口數量

1

2

4

8

檢(jian)測端(duan)口類型

歐姆(mu)龍64PIN卡扣(kou)式(shi)牛角插座(zuo)(XG4A-6434)

存儲測試(shi)數據量

可存儲(chu)19297個(ge)測(ce)試方案,存儲(chu)測(ce)試數據30000000條

測試內容

通(tong)斷測試

自學習測試

電(dian)阻測試

二(er)極(ji)管測試

瞬斷(duan)測試(shi)

PinSearch

系統自檢(jian)

用戶(hu)界面

表(biao)示方式(shi)

5寸(cun)多點式電(dian)容觸(chu)摸屏(分辨率800*480)

操作方法

觸摸屏操作(可外接鼠(shu)標、鍵盤)

操作系統

Android

語言

簡體(ti)中文、英文

存儲端口(kou)

USB

無線通信端口

內置WIFI,BT4.0(標配(pei))

以太(tai)網端口

1個,10/100M自適應以太網

顯示(shi)設備端口

HDMI

控制端口

USB

RTC實時(shi)時(shi)鐘(zhong)

支持

RTC電(dian)池

使用(yong)壽命3年

打印機

普通(tong)打印(yin)機:HP LaserJet Pro MFP M426f-M427f等(WIFI連接)

標(biao)簽打印機:佳博(Gprinter)1134T等

(BT連(lian)接)

掃碼槍(qiang)

ST2200有線二維(wei)影像掃描槍(qiang)(接口:RS232)

輸(shu)出信號

PASS

觸點(dian)容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

FAIL

觸點容(rong)量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

輸(shu)出信號周期

200ms±4ms

輸入信號

外部觸發

觸(chu)發點輸(shu)入50ms以上的連接(短路(lu))狀(zhuang)態

數(shu)據保存時(shi)間

5年以(yi)上,溫度:-20℃~50℃ ,濕度:40%

供電(dian)(dian)電(dian)(dian)壓

AC100V-240V/50~60Hz

外(wai)形尺寸 (寬*高*深(shen))

365*163*363mm

主機重(zhong)量

約6.15Kg

約6.25Kg

約6.45Kg

約6.45Kg

環境條件

工(gong)(gong)作溫度:0~45℃;存儲溫度:-20℃~50℃;工(gong)(gong)作濕度:5%~70%RH,無冷凝

檢(jian)測規格/參數

通斷測試(shi)

檢測電壓(ya)

不大于10V,±5%

檢測電(dian)流

不大于1mA,±5%

通(tong)斷判定電阻值(zhi)

比較(jiao)模式:100Ω~100kΩ;±5%

電阻測試模式:10Ω~100Ω,100kΩ~1MΩ,±1%

瞬斷(duan)測(ce)試

(64)

檢測次數(shu)

2~999次

瞬斷檢測(ce)寬度

2.5s~6s

檢測時(shi)間

2*2.5s~999*6s(或(huo)到停(ting)止測(ce)試按(an)鈕按(an)下為(wei)止)

電子元件

測試

電阻測試

不大(da)于100Ω,±1%±3Ω(需標定)

100Ω~1MΩ,±1%

二(er)極管

測(ce)試

檢測電壓

不大(da)于10V,±10%

檢測電(dian)流

不大于1mA

訂購(gou)信息:  

• ATX-64S :64點導通線束測(ce)試儀(yi)

• ATX-128S:128點導通線束測試儀(yi)

• ATX-256S:256點(dian)導通線束測試儀(yi)

• ATX-512S:512點(dian)導(dao)通線束測試儀

備注:更多通道可快速擴展

選配附(fu)件:

• RS232、USB等接口及程控軟件

• 轉接(jie)箱、轉接(jie)板

• 打點機

• 低壓測試線