11200电容漏电流/绝缘电阻表技术参数-深圳市聚仪精密电子有限公司

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11200電容漏電流/絕緣電阻表技術參數

點擊次數：1113 更新時間：2020-08-06

11200電容漏電流/絕緣電阻表

主要特色：

電容漏電流測試(shi)功(gong)能
絕(jue)緣電阻測試(shi)功能(neng)
基本準確度: 0.3%
定(ding)電(dian)流DC電(dian)源含放電(dian)功能
順向電(dian)壓(ya)測試(shi)功能, 二極體(ti)diode, LED,Zener diode與varistor測試(shi)應用
電解電容浪湧電壓測(ce)試(shi)(shi)功能(符(fu)合JIS C5101/5102/5140/5141測(ce)試(shi)(shi)需求)
選配接觸檢查(cha)功(gong)能, 提(ti)升測試可信賴性
鋁箔耐壓與上升時間測(ce)試功能(符合EIAJ RC-2364A測(ce)試需求)
精密的(de)微小(xiao)定電(dian)流(liu)充電(dian)能力 (0.5mA±0.05mA, 符合EIAJ RC-2364A測試需(xu)求)
大電(dian)流(liu)充電(dian)能力(500mA)提升充電(dian)速度(du)
測試(shi)電壓1.0V~650V/800V
0.001uA~20.00mA漏電流量測(ce)範圍與(yu)4位(wei)數顯(xian)示(shi)解析(xi)度
內建數位式計(ji)時器
比較器與良(liang)品/不(bu)良(liang)品警示聲響功能
標準的RS-232介面
可選購GPIB & handler介(jie)面

應用(yong)

各(ge)類型電(dian)解電(dian)容(rong), 高(gao)介電(dian)陶(tao)瓷電(dian)容(rong)
鋁箔(bo)耐壓測試 (符(fu)合EIAJ RC-2364A需求)
半導體元件漏電(dian)流或絕緣(yuan)電(dian)阻測試
各類型(xing)抗靜電(dian)材料(liao), 非超高絕緣材料(liao) (IR

Chroma 11200電(dian)(dian)容漏(lou)電(dian)(dian)流(liu)(liu)/絕(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)阻(zu)錶(biao)為(wei)Chroma 新推出的(de)(de)數位式漏(lou)電(dian)(dian)流(liu)(liu)量(liang)測(ce)儀表(biao)，提供1~650V, 0.5~500mA(150mA當V>100V)或1~800V, 0.5~500mA (50mA當V>100V)的(de)(de)直流(liu)(liu)電(dian)(dian)源，具備電(dian)(dian)壓(ya)錶(biao)與(yu)(yu)(yu)奈安錶(biao)，主要應(ying)用(yong)於(wu)電(dian)(dian)解電(dian)(dian)容漏(lou)電(dian)(dian)流(liu)(liu)與(yu)(yu)(yu)鋁箔耐壓(ya)的(de)(de)測(ce)試(EIAJ RC-2364A)，亦(yi)可(ke)應(ying)用(yong)於(wu)突波吸收器、齊納二極(ji)體、霓虹燈管(guan)等產品的(de)(de)工作電(dian)(dian)壓(ya)檢(jian)查與(yu)(yu)(yu)漏(lou)電(dian)(dian)流(liu)(liu)量(liang)測(ce)。藉(jie)由標配的(de)(de)RS-232介面、選配的(de)(de)GPIB & Handler介面與(yu)(yu)(yu)穩定的(de)(de)量(liang)測(ce)表(biao)現，Chroma 11200既(ji)能夠於(wu)產線上作為(wei)元件特(te)性的(de)(de)評估方案，也能成為(wei)提供基(ji)礎漏(lou)電(dian)(dian)流(liu)(liu)與(yu)(yu)(yu)絕(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)試功能的(de)(de)桌(zhuo)上型儀表(biao)。

1~650V, 150mA/500mA或1~800V, 50mA/500mA 低雜訊(xun)直流(liu)電(dian)壓源

Chroma 11200是以(yi)低雜訊的線性電源供應器設(she)計，輸出直流電壓範(fan)圍從(cong)1.0V到650V/800V，從(cong)低耐(nai)壓電容的漏電流測(ce)試(shi)到鋁箔(bo)耐(nai)壓測(ce)試(shi)的範(fan)疇(chou)皆能適用，大充電電流為(wei)500mA/100V, 150mA/650V或(huo)50mA/800V，對於大容量產品(pin)能夠(gou)快速地充電。

精密的微小定(ding)電流充電能力 (0.5mA ±0.05mA)

鋁電(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)容正極(ji)鋁箔(bo)的(de)氧化膜通常(chang)是以極(ji)低的(de)定電(dian)(dian)流(liu)來(lai)測試(shi)鋁箔(bo)皮膜耐壓(ya)與電(dian)(dian)壓(ya)上升時間( 由EIAJ RC-2364A標準定義(yi)，根據(ju)不(bu)同鋁箔(bo)形(xing)式，測試(shi)電(dian)(dian)流(liu)為(wei)0.5mA, 1mA或2mA ±10%)，Chroma 11200可提供高穩定度且低0.5mA的(de) 充電(dian)(dian)定電(dian)(dian)流(liu)。

0.001μA~20.00mA 漏(lou)電(dian)流測試範圍與4位數顯(xian)示解析度

Chroma 11200內建0.001uA到20mA測(ce)試範圍(wei)的(de)(de)奈安(an)錶，適合應用於電(dian)解電(dian)容、高介電(dian)陶瓷電(dian)容的(de)(de)漏電(dian)流(liu)或絕緣電(dian)阻(zu)測(ce)試，其超低(di)輸入電(dian)阻(zu)的(de)(de)設計(低(di)0Ω)能夠實現(xian)高電(dian)容量元件(jian)的(de)(de)快速測(ce)試。

輸出電壓(ya)監控(kong)

為了確保操(cao)作(zuo)(zuo)者(zhe)的(de)(de)安全，不論是(shi)在測試(shi)中(zhong)或是(shi)在操(cao)作(zuo)(zuo)設定的(de)(de)狀(zhuang)態，Chroma 11200都會持(chi)續監控實際(ji)的(de)(de)輸出電(dian)壓，除(chu)了在測試(shi)頁(ye)面上顯示(shi)實際(ji)輸出電(dian)壓值，在其他操(cao)作(zuo)(zuo)頁(ye)面中(zhong)，當輸出電(dian)壓異常超過10V，會顯示(shi)錯(cuo)誤訊息。

65W/50W 多段定功率放(fang)電電路

為了在測試後達成快速且*地放(fang)電(dian)(dian)，Chroma 11200內建有(you)65W/50W的(de)多(duo)段定功率放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)路，能夠滿足充電(dian)(dian)大電(dian)(dian)容的(de)快速放(fang)電(dian)(dian)需(xu)求(qiu)。