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CS9911AN-CC程控耐壓測試儀(具有接觸檢查功能)
點擊次數:897 更新時間:2020-07-01

程控耐壓(ya)測試儀(具有接觸檢查功能(neng))

CS9911AN-CC  CS9912AN-CC   CS9911BN-CC  CS9912BN-CC

性能特點

標配預(yu)防性安全系統(tong)(具有OK燈,過(guo)零(ling)啟動,高壓指示(shi)燈,電壓安全指示(shi)柱功能(neng))
快(kuai)速(su)的電壓上升時間(100ms)
測試自動穩定(ding)控制系統
可以測試阻性,容性,感(gan)性等不(bu)同負載
接(jie)觸檢測功(gong)能,防止(zhi)產品沒有接(jie)觸好(hao),開路測試(shi)。
交(jiao)流耐(nai)壓(ya)、接接觸檢測功能。
0.2秒快速放電功能(neng)
可設(she)置(zhi)電壓上升時間(jian),測試時間(jian),暫停時間(jian)
具有電弧偵測功能,可設置電弧偵測等級
20個記(ji)憶組,每(mei)組8個測試步
多步(bu)測試(shi)(shi)時,可自動循(xun)環測試(shi)(shi),也可單步(bu)手動測試(shi)(shi),適用對不同部位耐壓(ya)要求的(de)測試(shi)(shi)
50HZ ,60HZ頻率可選.
U盤存儲(chu)(chu)功能(neng),可(ke)實時把測(ce)試結果(guo)存儲(chu)(chu)到U盤里
標配(pei)PLC接(jie)口(kou),選配(pei)RS232接(jie)口(kou)。

規格表

型號

CS9911AN-CC

CS9912AN-CC

CS9911BN-CC

CS9912BN-CC

測試模式

AC

AC/DC

ACW

輸出
電壓

范(fan)圍(wei)

0.050kV~5.000kV

精(jing)度

±(2%讀值+5V)

分辨率

1V

大輸出功(gong)率

60VA

100VA

60VA

100VA

大額定電(dian)流

12mA

20mA

12mA

20mA

下限電(dian)流范(fan)圍(wei)

0~11.99mA

0~19.99mA

0~11.99mA

0~19.99mA

電(dian)流檔位

2mA、12mA

2mA、20mA

2mA、12mA

2mA、20mA

輸(shu)出波形

正(zheng)弦波

輸出(chu)波形失真(zhen)度

≤2%(空載或純阻性(xing)負載)

波(bo)峰因數

1.3~1.5

輸出信號類(lei)型

DDS+功放

電(dian)壓上升(sheng)時間(jian)

0,0,0.3s~999.9s  0=電壓上升時(shi)間關

測(ce)試時(shi)間

0,0.3s~999.9s  0=連續測(ce)試

間(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)

0s~999.9s  0=間(jian)隔時間(jian)關

輸出電壓頻率

50Hz、60Hz可選

電(dian)弧偵測

0~9,0為關

 
 
DCW
 
 
 
 
 
 

輸(shu)出(chu)
電壓

范圍

 

0.050KV~6.000kV

精度

 

±(2%讀值+5V)

分辨率

 

1V

大輸出功率(lv)

 

30W

60W

大額定(ding)電流(liu)

 

5mA

10mA

電流檔位

 

2mA、5mA

2mA、10mA

紋波系數

 

≤5%

放電時間

 

≤200ms

大充電電流

 

5mA

10mA

電壓上升時間

 

0, 0.3s~999.9s  0=電(dian)壓上(shang)升時(shi)間(jian)關

測(ce)試時間

 

0,0.3s~999.9s  0=連(lian)續測試

間隔時間

 

0.0s~999.9s0=間隔時間關(guan)

電弧(hu)偵測(ce)

 

0~9,0為關

電(dian)壓表(biao)

范圍

0.050KV~6.000kV

精度

±(2%讀(du)值+5V)

分辨率

1V

顯示數值

均方根值

電流表

測量(liang)
范圍

AC

0 ~20.00mA

DC

0 ~10.00mA

分辨率

AC

2mA檔:1uA,12mA/20mA檔:10uA

DC

2mA檔:1uA,5mA/10mA檔:10uA

測(ce)量精度

±(2%+5個字)

測試(shi)模式

FLOAT模式:RETURN端(duan)不接機殼

計時器

范圍(wei)

0~999.9s

分辨率

0.1s

精度(du)

±(1%+50ms)

記憶組

20

測試步

8