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CS2676CH-5程控絕緣電阻測試儀技術參數
點擊次數：898 更新時間：2020-06-12

CS2676CH-5程控絕緣電阻測(ce)試(shi)儀

規格

型號(hao)

CS2676CH-5

測試模式(shi)

IR

IR

輸出電(dian)壓
（DC）

范圍(wei)

0.500kV～5.000kV

精度

±（1.5％讀(du)值+5V）

分辨(bian)率

1V

大上限設(she)定值

1.200TΩ

大(da)下限設定值(zhi)

1.200TΩ

小下限設定值

5MΩ

電壓上升時間(jian)

       0.3s～999.9s  0=電壓上升時(shi)間關

測試時間

0.3s～999.9s  0=連續測(ce)試

間(jian)隔(ge)時間(jian)

  0.0s～999.9s  0=間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)關(guan)

自動切換檔位(wei)

可(ke)設置為(wei)開、關

放電時間

≤200ms

電阻表

測量(liang)范圍(wei)

5MΩ～1.200TΩ

分辨率

   5MΩ～9.999MΩ：0.001MΩ   ，10MΩ～99.99MΩ：0.01MΩ，
100MΩ～999.9MΩ：0.1MΩ   ，1000MΩ～9999MΩ：1MΩ，
10.00GΩ～99.99GΩ：10MΩ  , 100GΩ～999GΩ:0.1GΩ
1.000TΩ～1.200TΩ:0.001TΩ

誤(wu)差(cha)范(fan)圍

電(dian)壓(ya) ≤ 1000V

5MΩ-1000MΩ：±5%    1000MΩ-9999MΩ：±10%

1000V<電壓≤ 2500V

5MΩ-1000MΩ：±5%    1000MΩ-9999MΩ：±10%
10.00GΩ～99.99GΩ：15%

2500V<電(dian)壓≤ 5000V

5MΩ-1000MΩ：±5%          &nbsp;1000MΩ-9999MΩ ：±10%
10.00GΩ～99.99GΩ：±15%   &nbsp;100GΩ～1.200TΩ: ±20%

計
時
器

范(fan)圍

0～999.9s

分辨(bian)率

0.1s

精度

±（0.1%+50ms）