產品列表PRODUCTS LIST
GUT-6000B桌(zhuo)上型數位(wei)IC測試(shi)器
產(chan)品(pin)特點
Loop 測試
自動(dong)搜尋IC 編號功能(neng)
開機自我偵測(ce)診斷功能
過載(zai)保護(hu)功能
可量測之IC 種類超過1800 種
54/74 系列TTL
4000 及4500 系列(lie)CMOS
大可測Pin 數: 28 Pin
產品敘述
桌上(shang)型數位IC測試器(qi)
GUT-6000B是一款(kuan)桌上型(xing)IC測試(shi)儀(yi)。鑒(jian)于使(shi)測試(shi)任(ren)務(wu)自(zi)動化，GUT-6000B包(bao)含自(zi)動搜索功能(neng)和(he)回圈測試(shi)功能(neng)等高級功能(neng)。并提供(gong)智(zhi)慧化連續偵測壞損的(de)IC的(de)功能(neng)。自(zi)我(wo)診斷(duan)功能(neng)和(he)超載(zai)保護功能(neng)使(shi)GUT-6000B更接(jie)近(jin)零維護，減少了使(shi)用者(zhe)不(bu)必要的(de)爭議(yi)。測試(shi)器件(jian)(jian)大1800多種常見(jian)的(de)TTL和(he)COMS器件(jian)(jian)，真正(zheng)在數位IC測試(shi)領域實現一個機型(xing)測量所有器件(jian)(jian)的(de)解(jie)決方案。
產品規格
規(gui)格 | |
測試(shi)范(fan)圍(wei) | |
| 54/74 系列 TTL;4000 及 4500 系列 CMOS;DRIVE |
量測種類(lei) | |
| 約 1800 種 |
測(ce)試電壓 | |
| 2.5/3.0/3.3/5V DC |
測(ce)試(shi)時間 | |
| 高測試速度，平均 0.6 秒可(ke)完成一個 IC |
使用電源 | |
| 交流(liu) 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸(cun)及重量 | |
| 335(寬) x 105(高(gao)) x 300(長(chang)) mm,約 1.5 公斤 |
在線客服