產品列表PRODUCTS LIST
產品綜述6332C光(guang)(guang)(guang)插回(hui)損測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀內置高(gao)穩(wen)定度(du)光(guang)(guang)(guang)源(yuan),可(ke)實時(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)光(guang)(guang)(guang)傳輸(shu)系統中光(guang)(guang)(guang)纖光(guang)(guang)(guang)纜、光(guang)(guang)(guang)器件和(he)光(guang)(guang)(guang)設備的插入損耗和(he)回(hui)波損耗,具有穩(wen)定光(guang)(guang)(guang)源(yuan)和(he)光(guang)(guang)(guang)功(gong)率(lv)計功(gong)能(neng),操(cao)作(zuo)簡單,一(yi)機多用。產品具有遠(yuan)程控制功(gong)能(neng);可(ke)以(yi)存(cun)儲校準參數(shu),避免(mian)每次測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)前校準,簡化了測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)過程;可(ke)以(yi)保存(cun)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果,方便后續數(shu)據(ju)處(chu)理。測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)重復性(xing)高(gao),接(jie)頭易于清潔,廣泛(fan)應用于光(guang)(guang)(guang)纖通信科研(yan)、教學和(he)生產領域。
更新(xin)時(shi)間(jian):2018-11-09
產品綜述(shu)
6332C光(guang)插回損測試(shi)(shi)儀內置高穩(wen)定度(du)光(guang)源,可實時測試(shi)(shi)光(guang)傳輸系統中光(guang)纖(xian)光(guang)纜、光(guang)器件和(he)(he)光(guang)設(she)備的插入損耗和(he)(he)回波損耗,具有穩(wen)定光(guang)源和(he)(he)光(guang)功率計功能,操作(zuo)簡單,一(yi)機多(duo)用。產(chan)品具有遠(yuan)程控制功能;可以存(cun)儲(chu)校準參數,避免每次測試(shi)(shi)前校準,簡化了測試(shi)(shi)過程;可以保存(cun)測試(shi)(shi)結果(guo),方便后續數據處理。測試(shi)(shi)重復性(xing)高,接頭易(yi)于清潔,廣泛應用于光(guang)纖(xian)通信科研、教學和(he)(he)生產(chan)領域。
功能特點
主要特點
具有穩(wen)定光(guang)源(yuan)和(he)光(guang)功率計功能
測量速度快
動態范圍達75dB
插損和回(hui)損同時(shi)測試,波長自(zi)動同步設(she)定
光功率計接(jie)口(kou)易于更換(huan)和清潔
可(ke)用(yong)腳(jiao)踏開關實現數據(ju)保(bao)存功能,保(bao)存的數據(ju)量超過(guo)1000條
具有穩定光源和光功率計功能
6332C除(chu)用(yong)于(yu)測試(shi)插入損耗(hao)和(he)回波損耗(hao)外,同時還可作(zuo)為穩(wen)定光(guang)(guang)源(yuan)和(he)光(guang)(guang)功率計使用(yong)。光(guang)(guang)源(yuan)有無光(guang)(guang),連續光(guang)(guang),內調制(270Hz,1kHz和(he)2kHz)和(he)外調制輸出模式,光(guang)(guang)功率計支持線(xian)(xian)性和(he)非線(xian)(xian)性顯示,可適應FC,SC,ST,LC,2.5mm通用(yong)和(he)1.25mm通用(yong)等(deng)接口類型。
測量(liang)速度快
6332C為用戶提供了校準(zhun)(zhun)參數(shu)存(cun)(cun)儲功能,當(dang)測(ce)試系統未發生改變時,再(zai)次開機,儀器直接調用上次關(guan)機前保存(cun)(cun)的校準(zhun)(zhun)參數(shu),無須再(zai)次進行校準(zhun)(zhun)設置,簡化了測(ce)試步(bu)驟。
動(dong)態范圍達75dB
6332C內部光(guang)路采用了(le)超低(di)反射的(de)光(guang)器件,電路上(shang)采取了(le)降低(di)噪聲提高(gao)檢測靈敏度(du)的(de)措施(shi),使得儀器回(hui)波(bo)損耗測試范圍達到(dao)75dB,可以滿(man)足PC、UPC和APC端面的(de)回(hui)波(bo)損耗測試。
插損和回損同時測試,波長自動同步設定
6332C具有(you)插(cha)回(hui)(hui)損同(tong)時測(ce)(ce)試模式,經過參考測(ce)(ce)試和回(hui)(hui)損定(ding)標后,接(jie)入(ru)待測(ce)(ce)件,儀(yi)器界面會同(tong)時顯示被測(ce)(ce)件的(de)插(cha)入(ru)損耗和回(hui)(hui)波損耗值,在(zai)該模式下(xia),光功率計可自動設定(ding)與(yu)光源的(de)輸出波長*。
光功率(lv)計接口易于更換和清潔
6332C光功率計接(jie)口支持多種連接(jie)方式(shi),可配(pei)備FC,SC,ST,LC,2.5mm通用和1.25mm通用類型(xing),根據被測(ce)件接(jie)口類型(xing)的不同,用戶可自行拆(chai)卸(xie)更(geng)換。同時,拆(chai)卸(xie)簡(jian)單,易于(yu)清潔。
可用腳踏開關實(shi)現(xian)數(shu)據保(bao)存(cun)功能,保(bao)存(cun)的(de)數(shu)據量超過1000條
6332C外置(zhi)BNC接(jie)口腳踏(ta)開關,等同于按產品(pin)面板(ban)的保(bao)(bao)存鍵,產品(pin)可實現超過(guo)1000條數據量的保(bao)(bao)存。
典型應(ying)用
如下圖(tu)所(suo)示,用6332C光插回損(sun)測試(shi)(shi)儀同時測試(shi)(shi)FC/UPC型跳線的(de)插入損(sun)耗和回波(bo)損(sun)耗。
完成6332C光(guang)插回(hui)損(sun)(sun)測(ce)(ce)(ce)試儀進行插回(hui)損(sun)(sun)輸出參考和回(hui)損(sun)(sun)定標測(ce)(ce)(ce)試后,接入被測(ce)(ce)(ce)跳線,在被測(ce)(ce)(ce)光(guang)纖接頭的后端(duan)實施光(guang)纖終止,此時顯(xian)示(shi)(shi)的回(hui)波(bo)損(sun)(sun)耗(hao)為被測(ce)(ce)(ce)光(guang)纖接頭的回(hui)波(bo)損(sun)(sun)耗(hao),釋(shi)放光(guang)纖,此時顯(xian)示(shi)(shi)的插入損(sun)(sun)耗(hao)為被測(ce)(ce)(ce)跳線的插入損(sun)(sun)耗(hao)。