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5251多模終端(duan)綜合測(ce)試儀(yi)

產品綜述(shu)

5251多模(mo)終端(duan)綜合(he)(he)測試(shi)儀可以(yi)提供CW信號(hao)(hao)；完成TD-LTE、TD-SCDMA和GSM通信標準制式下行(xing)信號(hao)(hao)的(de)發(fa)生、呼(hu)叫、功率控(kong)制、信號(hao)(hao)分析、終端(duan)綜合(he)(he)測試(shi)，模(mo)擬基站、RNC和核心網的(de)信令功能(neng)，可廣泛應用于無線通信終端(duan)的(de)研(yan)發(fa)、生產、認證(zheng)、維修和教學等領域。

5251多模終端(duan)綜合測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)通過不同(tong)的(de)選(xuan)件配置能(neng)(neng)夠(gou)滿(man)足多種測(ce)(ce)試(shi)(shi)需求：配置TD-LTE 、TD-SCDMA（包(bao)括(kuo)HSDPA、HSUPA）和GSM(包(bao)括(kuo)GPRS、EDGE）系統硬件平臺和相應的(de)系統模擬、信號分析軟(ruan)件，能(neng)(neng)夠(gou)支持(chi)相應終端(duan)射頻測(ce)(ce)試(shi)(shi)，覆蓋3GPP TS 36.521-1、3GPP TS 34.122和3GPP TS 51.010-1協議(yi)規定的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)項目；具備通過軟(ruan)硬件升級支持(chi)FDD-LTE、TD-LTE-A標準制式的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)能(neng)(neng)力。

功(gong)能特點

頻率(lv)范(fan)圍：800MHz～2800MHz

支持(chi)TD-LTE /TD-SCDMA/GSM終端(duan)射頻*性(xing)測(ce)試

單表支持(chi)MIMO 2×2測(ce)試(shi)，支持(chi)MIMO 4×4測(ce)試(shi)擴展

支持雙通道并行測試、收發分(fen)離

支持非信令(ling)模式(shi)的板級校(xiao)準

支持音頻環(huan)回模式

支(zhi)持標準的GPIB和TCP/IP接(jie)口，有完整(zheng)的遠程(cheng)控制功能

中/英文操作界面，TFT真彩(cai)液晶顯示

支持USB接口存(cun)儲卡，可(ke)用(yong)于(yu)存(cun)儲測量參數(shu)及測量結果(guo)，并用(yong)于(yu)軟件升(sheng)級

利(li)用5251多(duo)模終端(duan)綜合(he)測(ce)(ce)試儀協議棧和模塊(kuai)化(hua)設計的特(te)點(dian)，無論是(shi)TD-LTE、TD-SCDMA、GSM終端(duan)的板級(ji)校(xiao)準，終端(duan)射頻(pin)*性測(ce)(ce)試，還是(shi)音頻(pin)*性測(ce)(ce)試，5251多(duo)模終端(duan)綜合(he)測(ce)(ce)試儀都能快(kuai)(kuai)速準確(que)測(ce)(ce)試相(xiang)應(ying)參數，并給出測(ce)(ce)試結(jie)果，能為各(ge)種當前和將來(lai)的無線設備提供快(kuai)(kuai)速和精確(que)的測(ce)(ce)試。

快速自動化測試(shi)

5251支持多種板級校(xiao)準方式，有利于各終端(duan)廠家自主開發(fa)或與本單位合(he)作開發(fa)快速(su)自動(dong)(dong)校(xiao)準和(he)自動(dong)(dong)化綜合(he)測(ce)試程(cheng)序。大大提高終端(duan)生產速(su)度和(he)節(jie)約(yue)生產成本。

雙通道并行測試

•    兩個射頻通道可(ke)以同時獨(du)立測(ce)試(shi)，提高測(ce)試(shi)效率，降(jiang)低生(sheng)產測(ce)試(shi)成本(ben)，可(ke)直

收發分離

支持收發(fa)分離的射頻(pin)(pin)通路，用戶可根據實(shi)際情況(kuang)對(dui)上下行頻(pin)(pin)率和(he)增益(yi)進行單獨配置，便于(yu)搭建射頻(pin)(pin)*性測試系統(tong)，靈活實(shi)現對(dui)TDD的支持和(he)FDD的擴展.

*的可(ke)擴展性(xing)

由于標準在不斷(duan)演(yan)化(hua)，終端(duan)的新品不斷(duan)推出，功(gong)能不斷(duan)強(qiang)大，終端(duan)的研發(fa)和生產測(ce)試(shi)項(xiang)也不斷(duan)增多(duo)(duo)，5251多(duo)(duo)模(mo)終端(duan)綜合(he)測(ce)試(shi)儀強(qiang)大的協議(yi)棧和整(zheng)機(ji)*的模(mo)塊化(hua)設計(ji)方(fang)式，有利于測(ce)試(shi)功(gong)能的擴展(zhan)。

具有多(duo)種接口，方便搭建(jian)測試系統

5251多(duo)模終端綜合測試儀提供10MHz參考、5ms觸(chu)發信號、80ms觸(chu)發信號、GPIB、TCP/IP、USB等多(duo)種接口，zui大程(cheng)度地擴展了(le)儀器(qi)的(de)應(ying)用(yong)范圍，用(yong)戶(hu)可以(yi)選擇多(duo)種儀器(qi)實(shi)現系統集成測試(shi)，支持終端射頻*性測試(shi)系統的(de)搭建。

各測試(shi)用例用獨立(li)界面(mian)顯示(shi)，方(fang)便用戶分(fen)析測試(shi)結果

5251提供友好的用(yong)(yong)戶界(jie)面(mian)，用(yong)(yong)戶可根據需要選擇測試(shi)項(xiang)運行，并(bing)可在(zai)(zai)執行過程(cheng)中觀察系(xi)統(tong)狀態(tai)，在(zai)(zai)執行結(jie)束(shu)后獲得測試(shi)結(jie)果報告，并(bing)且各測試(shi)用(yong)(yong)例用(yong)(yong)獨立(li)界(jie)面(mian)顯示，方便用(yong)(yong)戶分析和解決(jue)問題。

典(dian)型應用

5251多模終(zhong)端(duan)綜合測(ce)試(shi)儀可廣泛應用于TD-LTE/TD-SCDMA/GSM終(zhong)端(duan)的(de)設計(ji)、研發、生產(chan)、認(ren)證(zheng)及(ji)維修等領(ling)域(yu)。下(xia)圖是5251在終(zhong)端(duan)生產(chan)流程中的(de)應用情況介紹。

TD-LTE/TD-SCDMA/GSM終端射頻測(ce)試

       5251多模終端綜(zong)合測(ce)試儀支(zhi)持(chi)(chi)(chi)終端輸出功(gong)(gong)率(lv)測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)項包括最大(da)、最小功(gong)(gong)率(lv)的(de)統計值等；支(zhi)持(chi)(chi)(chi)多模終端調制(zhi)分析(xi)(xi)測(ce)量(liang)，可(ke)同時測(ce)試和(he)顯示調制(zhi)頻(pin)率(lv)、頻(pin)率(lv)誤差、相位誤差及(ji)(ji)峰(feng)值誤差；支(zhi)持(chi)(chi)(chi)多模終端占用頻(pin)帶帶寬測(ce)量(liang)和(he)鄰(lin)道功(gong)(gong)率(lv)測(ce)量(liang)；支(zhi)持(chi)(chi)(chi)頻(pin)譜分析(xi)(xi)及(ji)(ji)判(pan)別(bie)等。