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6332A/B光回波損(sun)耗測試儀

產品綜(zong)述

6332A/B光(guang)(guang)(guang)回波損(sun)耗(hao)(hao)測(ce)(ce)試儀內置2×2光(guang)(guang)(guang)開關，可(ke)快速實(shi)現(xian)光(guang)(guang)(guang)器件插入(ru)損(sun)耗(hao)(hao)和回波損(sun)耗(hao)(hao)雙向測(ce)(ce)試。光(guang)(guang)(guang)回波損(sun)耗(hao)(hao)測(ce)(ce)試時，不需要(yao)在光(guang)(guang)(guang)纖末(mo)端進(jin)行纏繞操作或使用(yong)匹配液，顯(xian)著提高光(guang)(guang)(guang)回波損(sun)耗(hao)(hao)測(ce)(ce)試效率(lv)。通(tong)過內置激光(guang)(guang)(guang)器功率(lv)檢測(ce)(ce)模塊，實(shi)現(xian)光(guang)(guang)(guang)插入(ru)損(sun)耗(hao)(hao)準確測(ce)(ce)試。產品廣泛應(ying)用(yong)于光(guang)(guang)(guang)纖通(tong)信科(ke)研、教學和生產領域。

功能特點

主要特點

  回損(sun)測量無需纏繞或使用匹配液

  適應不同(tong)產品的(de)端(duan)面(mian)回損(sun)測試(shi)，待測光纖跳線短至70cm

  全自動(dong)雙波(bo)長光(guang)插回損同(tong)時測試

  單向和雙向測試(shi)，縮短(duan)測試(shi)時間

  設定(ding)不同插回損閾值(zhi)

  同時顯示插回損測(ce)試結果

  保存參考和待(dai)測(ce)(ce)的測(ce)(ce)試(shi)結果，測(ce)(ce)試(shi)裝置不變(bian)的話，可以(yi)直接調用(yong)保存的參考數據

回損測量無需纏繞或使(shi)用匹配液

 儀器采用光時域反射技術(shu)，區別于傳統的(de)光連(lian)續波反射技術(shu)，相應(ying)地避免(mian)了光回(hui)波損耗測(ce)量過程中的(de)纏繞或者使用匹配(pei)液，提高了測(ce)試(shi)效(xiao)率。

適(shi)應不同產品的端面回(hui)損測(ce)(ce)試，待(dai)測(ce)(ce)光(guang)纖跳線短至70cm

不同(tong)(tong)型號儀(yi)器(qi)測試(shi)的(de)回波(bo)損(sun)耗分別(bie)能低至(zhi)14dB和高達80dB，這樣，可以根據產品回波(bo)損(sun)耗值來選擇不同(tong)(tong)型號的(de)儀(yi)器(qi)。儀(yi)器(qi)設(she)計(ji)了窄脈(mo)寬的(de)激光(guang)(guang)器(qi)脈(mo)沖光(guang)(guang)驅動電路(lu)，當待(dai)測光(guang)(guang)回波(bo)損(sun)耗超過40dB時，待(dai)測光(guang)(guang)纖跳線可短至(zhi)70cm。

全(quan)自動雙(shuang)波長光(guang)插(cha)回(hui)損(sun)同(tong)時測試(shi)

 測試過程中，選中雙(shuang)波(bo)長之后，參考測試可(ke)顯(xian)示雙(shuang)波(bo)長的(de)輸出光功率，待測件測試可(ke)顯(xian)示雙(shuang)波(bo)長的(de)光插入(ru)損(sun)(sun)耗和光回波(bo)損(sun)(sun)耗測試結果。

單向和雙向測試，縮短測試時間

 儀器通過內置2×2光(guang)(guang)開關，可以從(cong)不(bu)同(tong)輸出(chu)端口輸出(chu)脈沖(chong)光(guang)(guang)，從(cong)而(er)實現單雙向測(ce)試(shi)(shi)功能(neng)。雙向測(ce)試(shi)(shi)時，一次(ci)連接光(guang)(guang)纖(xian)跳(tiao)線的兩個端面，一次(ci)測(ce)試(shi)(shi)即可測(ce)出(chu)跳(tiao)線的光(guang)(guang)插(cha)入損(sun)耗和(he)這兩個端面的光(guang)(guang)回波損(sun)耗，從(cong)而(er)使測(ce)試(shi)(shi)時間減半(ban)。

設定不同插回(hui)損(sun)閾值(zhi)

       進入(ru)儀(yi)器(qi)設置測試(shi)(shi)條件界面(mian)，在(zai)插入(ru)損(sun)耗(hao)(hao)閾(yu)值(zhi)和回波(bo)損(sun)耗(hao)(hao)閾(yu)值(zhi)后面(mian)的(de)(de)窗(chuang)口中輸入(ru)相應的(de)(de)數值(zhi)，那么在(zai)測試(shi)(shi)結果中插入(ru)損(sun)耗(hao)(hao)高于(yu)閾(yu)值(zhi)和回波(bo)損(sun)耗(hao)(hao)低于(yu)閾(yu)值(zhi)會顯示為紅色，其(qi)他為藍色。

典型應用

如下圖所(suo)示，使用6332A/B光回波損耗(hao)測(ce)(ce)試儀同(tong)時測(ce)(ce)試FC/APC—FC/APC型跳線(xian)的光插入損耗(hao)和光回波損耗(hao)。

對6332A/B光回波損耗測(ce)(ce)(ce)試儀進行參考測(ce)(ce)(ce)試之后，接入(ru)待測(ce)(ce)(ce)跳線，點擊(ji)測(ce)(ce)(ce)試鍵，即可測(ce)(ce)(ce)出待測(ce)(ce)(ce)光纖跳線的光插入(ru)損耗和光回波損耗。