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首頁>產品中心>思儀>測試儀>6581太(tai)陽能電池(chi)板伏(fu)安特性測試儀
6581太陽能電池板伏安特性測試儀

簡要描述:

產品綜述
6581太陽(yang)(yang)能(neng)(neng)電(dian)池(chi)板伏安特(te)性測(ce)試(shi)儀主(zhu)要用于(yu)太陽(yang)(yang)能(neng)(neng)電(dian)池(chi)板生產的終測(ce)試(shi),也可以作(zuo)為層壓前測(ce)試(shi)使用,能(neng)(neng)大大提高一次封裝成品(pin)率。該(gai)測(ce)試(shi)儀適合(he)于(yu)單晶、多(duo)(duo)晶、薄(bo)膜等(deng)多(duo)(duo)種電(dian)池(chi)組件,可進(jin)行I-V曲(qu)線、P-V曲(qu)線、短路電(dian)流、開(kai)路電(dian)壓、峰值(zhi)功率等(deng)全部參數測(ce)試(shi)。該(gai)測(ce)試(shi)儀是建立在氙(xian)燈模擬太陽(yang)(yang)光(guang)基礎上(shang)的恒定脈(mo)沖系統,氙(xian)燈光(guang)源經(jing)過兩次濾(lv)光(guang)處理,光(guang)譜分(fen)布達(da)到IEC60904-9 *要求。

更新時(shi)間:2018-12-07

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6581太(tai)陽能電池板伏安特性測試(shi)儀

產品綜(zong)述

6581太(tai)陽能(neng)電(dian)池板伏安特性測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)主要用于(yu)太(tai)陽能(neng)電(dian)池板生產的最終測(ce)(ce)試(shi),也可以作為層壓前測(ce)(ce)試(shi)使用,能(neng)大大提高一(yi)次(ci)(ci)封裝成品(pin)率。該測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)適合于(yu)單晶、多晶、薄膜等多種(zhong)電(dian)池組件,可進行(xing)I-V曲線、P-V曲線、短路(lu)電(dian)流、開路(lu)電(dian)壓、峰值功(gong)率等全部參數(shu)測(ce)(ce)試(shi)。該測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)是建立(li)在(zai)氙(xian)燈模擬太(tai)陽光(guang)基礎(chu)上的恒(heng)定脈沖系(xi)統,氙(xian)燈光(guang)源經過兩次(ci)(ci)濾(lv)光(guang)處理,光(guang)譜(pu)分(fen)布達到IEC60904-9 *要求。

該(gai)測(ce)試儀由太陽模(mo)擬器、軟件、紅外測(ce)溫探頭和導(dao)軌等組成,具有可(ke)視化界面(mian),整個測(ce)試過程由控制電(dian)路自動完成,測(ce)試速度(du)快、精度(du)高,測(ce)試結果直觀。

功能特點

l 標配水平滾輪測試軌道,方便流水線生產。
l 可測量參數:I-V曲線(xian),P-V曲線(xian),短路電(dian)(dian)(dian)流,開路電(dian)(dian)(dian)壓,峰值(zhi)功率,峰值(zhi)功率點電(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)流,定電(dian)(dian)(dian)壓點電(dian)(dian)(dian)流,填充因子,轉換效率,串聯電(dian)(dian)(dian)阻,并聯電(dian)(dian)(dian)阻,太陽電(dian)(dian)(dian)池溫度,環境溫度。
l *光譜標(biao)準(zhun)(IEC60904)測試(shi)儀,確保了(le)測量可靠性(xing)(xing)和(he)標(biao)準(zhun)性(xing)(xing)。
l 單脈沖恒定光(guang)強,輻照(zhao)不(bu)穩定度優于(yu)±0.5%(*)。
l 輻照不均勻度優于±2%(*)。
l 采(cai)用進口脈沖氙(xian)燈,保證了(le)測試光(guang)譜(pu)和使用壽命。
l 有效測量面積大,多電(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)流(liu)量程設計,適用于100V10A以(yi)下的各種(zhong)規格電(dian)(dian)池。
l 采用開爾(er)文四線連接,確(que)保了(le)組件電壓和(he)電流測(ce)量的準確(que)性。
l 鍵盤和(he)條碼掃(sao)描兩種序列號輸入方式(shi)。
l 具(ju)有連續測試功能。
l 具有溫度校正功能(neng)。
l 可選自動分檔功能。
l 可(ke)測單(dan)晶硅、多晶硅、薄膜等各種類型(xing)太陽能(neng)電池。  ;

弱光測試
  

雙光強測(ce)串(chuan)聯電(dian)阻Rs


  

兩次測量峰值(zhi)功率(lv)Pm


  

AA*太(tai)陽(yang)模擬器(qi)

*光(guang)譜


  

*輻(fu)照不均勻度


  

*輻照不穩定度(du)-單次(ci)閃(shan)光輻照度(du)變化(hua)

 
  

*輻照(zhao)不穩定(ding)度-多次(ci)閃光輻照(zhao)度變化

 

 典(dian)型應用

 

6581太陽(yang)能(neng)電池板(ban)伏安特(te)性(xing)測(ce)試儀廣泛(fan)應用于太陽(yang)能(neng)電池板(ban)生產(chan)線

 

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