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6362C光譜分析儀(yi)

產品綜述(shu)

6362C光(guang)譜分(fen)析(xi)儀采用*的(de)(de)雙通(tong)光(guang)柵(zha)(zha)分(fen)光(guang)單元、高分(fen)辨(bian)率(lv)衍(yan)射光(guang)柵(zha)(zha)定位、光(guang)學楔形延遲(chi)消偏振、小信(xin)號和寬波(bo)段(duan)光(guang)譜檢測等技(ji)術研制而成。整機性能(neng)指標(biao)達(da)到國際同類(lei)產品*水平。適用于600～1700nm波(bo)段(duan)范圍的(de)(de)LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光(guang)纖、光(guang)纖光(guang)柵(zha)(zha)、光(guang)學濾波(bo)器(qi)、光(guang)纖放大器(qi)、波(bo)分(fen)復用器(qi)等光(guang)電子元器(qi)件(jian)及有(you)關系統的(de)(de)測試。

功能特點

主(zhu)要特點

● 0.05nm最(zui)小分辨帶寬

● -90 dBm電平(ping)測(ce)量靈敏度 

● ndB損耗(hao)分(fen)析

● 包絡(luo)分析

● 測試數據存儲輸出

● 激光(guang)光(guang)源(yuan)測試

● 光學濾波(bo)器測試(shi)

0.05nm最小(xiao)分辨帶(dai)寬(kuan)

    6362C光譜分析儀(yi)支持不同光譜分辨帶寬(kuan)的設置(zhi)，寬(kuan)譜光源與窄譜線光源測試靈活切換。并且最小分辨帶寬(kuan)可達0.05nm。

-90 dBm電平測量靈敏度 

通過(guo)低(di)(di)噪聲放大(da)、雜散光抑制(zhi)、數字濾波等技(ji)術，極大(da)地降低(di)(di)了(le)儀器噪聲，提高了(le)信噪比，電(dian)平測量靈敏度在1250nm～1600nm波段(duan)優于－90dBm。

ndB損(sun)耗分析

產品具有強(qiang)大(da)的分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)功(gong)能，快(kuai)速(su)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)光譜參數，儀器自身就能完(wan)成復雜的計算。分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)功(gong)能包(bao)括波(bo)峰檢索、閾(yu)值(zhi)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)、損(sun)耗(hao)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)、邊模分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)、包(bao)絡分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)、均方根和光功(gong)率分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)等(deng)，滿足您的全部需求(qiu)。

包絡分析(xi)測試數據存儲(chu)輸出

光譜測(ce)試數(shu)據可(ke)用.bmp或.osd格式文(wen)件存儲和輸出。

激光光源測試

儀(yi)器可以對多類(lei)型激光器進行一鍵(jian)測試(shi)(shi)與分析，實現所有測試(shi)(shi)項目批處(chu)理。

光(guang)學濾(lv)波器測(ce)試

除了(le)半導體激光(guang)光(guang)源（DFB-LD、FP-LD、LED）光(guang)譜測(ce)量應(ying)用(yong)(yong)外，儀(yi)器(qi)還集成了(le)光(guang)纖偏振模(mo)色散測(ce)量應(ying)用(yong)(yong)、波分復(fu)用(yong)(yong)應(ying)用(yong)(yong)、光(guang)纖放大(da)器(qi)應(ying)用(yong)(yong)、LD模(mo)塊應(ying)用(yong)(yong)、波分復(fu)用(yong)(yong)濾波器(qi)應(ying)用(yong)(yong)、波分復(fu)用(yong)(yong)光(guang)纖放大(da)器(qi)應(ying)用(yong)(yong)等光(guang)譜應(ying)用(yong)(yong)功(gong)能。

典型應用

LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析