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4037系列頻譜分(fen)析儀

產品綜述(shu)

4037系列頻譜分析儀設(she)計注重性能(neng)和成(cheng)本的zui佳(jia)優(you)化，兩個(ge)系(xi)列共10個(ge)型號，兼顧中高(gao)端和(he)中低端應(ying)用(yong)需(xu)求(qiu)；設(she)計(ji)(ji)技術*且(qie)成熟，綜合(he)性(xing)能優(you)異；側重用(yong)戶(hu)使用(yong)靈活(huo)性(xing)、便利性(xing)需(xu)求(qiu)，測試速度快；具備自(zi)測試與自(zi)校準功能，性(xing)能穩定，測試數(shu)據重復(fu)性(xing)好；提(ti)供SCPI指令(ling)集和(he)VISA及IVI儀器驅(qu)動庫(ku)，程控開發(fa)效(xiao)率高(gao)。 該產品(pin)采用(yong)系(xi)列化設(she)計(ji)(ji)思想，滿足(zu)您的不同需(xu)求(qiu)，可通過添加或刪(shan)減選件，實現與您需(xu)求(qiu)的zuijia匹(pi)配。該產品提供(gong)中(zhong)/英(ying)文(wen)兩種(zhong)操(cao)作界(jie)面，7英(ying)寸高(gao)亮度彩色微反液晶顯示屏(ping)，分(fen)辨率(lv)高(gao)、視角寬，適應(ying)各種(zhong)光線(xian)環境。采用標準3U高(gao)便攜式機箱，結構堅固(gu)、輕便，通過CE安全認證。主要用于電子產品開發、生產線(xian)在線(xian)測(ce)試、組(zu)建(jian)自(zi)動(dong)測(ce)試系統等。

功能特點

頻率范圍寬，低至30Hz，高達26.5GHz。

動態范圍(wei)大，1dB增益(yi)壓縮(suo)點0dBm，TOI（三階(jie)截(jie)獲點）+10dBm，DANL（顯示平(ping)均噪(zao)聲電(dian)平(ping)）優于-165dBm（內部前置放大器選(xuan)件，1GHz處典型(xing)值）。

相位噪(zao)聲性能優(you)異，頻偏10kHz處，達-110dBc/Hz（低相噪(zao)選件，典型值(zhi)）。

掃描時間范(fan)圍寬(kuan)，非零(ling)(ling)頻寬(kuan)1ms～2000s，零(ling)(ling)頻寬(kuan)1us～4000s。

測試(shi)速度(du)快，測試(shi)速率高達每秒90次。

全數(shu)字中頻，頻譜(pu)分辨率高，最(zui)小分辨率帶寬達(da)1Hz（FFT分析(xi)選(xuan)件）。

自動(dong)校準(zhun)，環境適應能力強。

提供掃頻分析和(he)FFT分析兩(liang)種頻譜分析模式(shi)，可靈活優化測(ce)試速度和(he)動態范圍。

分辨(bian)率帶(dai)寬(kuan)1-2-3-5步進(jin)，可(ke)實現(xian)頻(pin)寬(kuan)與分辨(bian)率帶(dai)寬(kuan)的(de)zuijia組(zu)合(he)，優(you)化頻譜分辨率。

提供常規、正峰值、負峰值、取(qu)樣、平均值等多種視(shi)頻檢波(bo)方式，用戶在測試不同(tong)類型(xing)的信號時可以靈活(huo)選擇，快速獲得所需測試結果。

提供(gong)(gong)多(duo)達6條顯示(shi)軌(gui)跡(ji)，支持多(duo)條軌(gui)跡(ji)不(bu)同視頻檢波(bo)方(fang)式(shi)下的同步測(ce)試；提供(gong)(gong)多(duo)達12個頻標，讀數方(fang)式(shi)靈活(huo)，支持頻標跨軌(gui)跡(ji)標識。

支(zhi)持天線因(yin)子編輯功能，滿足場強測試(shi)需要。

采用嵌入式計(ji)算(suan)機及多任務(wu)操作系統(tong)，方便對測試結果(guo)的存儲、打(da)印及數據共享。

采用7英(ying)寸高(gao)亮(liang)度彩(cai)色微反液(ye)晶顯示屏，分辨(bian)率高(gao)、視角寬(kuan)，在陽光照射下依然保持清晰的顯示。

菜(cai)單操作(zuo)簡(jian)便、參數設置全面，支持外接鼠標(biao)、鍵盤、VGA進行測試(shi)操作(zuo)。

提供3個(ge)USB2.0接口，支持移動存儲(chu)設備和即插(cha)即用外設。

支(zhi)持(chi)10M/100M自(zi)適應的網絡(luo)互聯。

支(zhi)持(chi)GPIB、LAN程(cheng)控，程(cheng)控指令(ling)集符合(he)SCPI 1999.0規范。提(ti)供符合(he)規范要求且經過嚴格(ge)測(ce)試的VISA和IVI儀器驅動(dong)庫，方便用戶構(gou)建自動(dong)測(ce)試系統(tong)。

極低(di)的顯示平均(jun)噪聲電平
     開(kai)啟內部前置(zhi)放大器(qi)，顯示(shi)平均噪聲(sheng)電平（DANL）低至-165dBm/Hz（1GHz處，典型值(zhi)）。
     
優(you)異的相位噪聲(sheng)性能
     本產(chan)品(pin)擁有國產(chan)中檔(dang)頻譜分(fen)析(xi)儀(yi)中zui優的(de)相位噪聲(sheng)性能，載波(bo)1GHz頻偏10kHz處，噪聲(sheng)邊帶達-110dBc/Hz（典(dian)型值）。
     
極快的測量速度
     本產品(pin)擁有國產中檔頻譜分析儀中較(jiao)快的(de)測(ce)(ce)試速度。非零頻寬掃描(miao)時(shi)間低至(zhi)1ms，測(ce)(ce)試速率高達每秒(miao)90次(ci)。
     
多種平均值(zhi)檢波(bo)方(fang)式(shi)
     本產品(pin)提供三種平均(jun)值檢(jian)波(bo)方(fang)式(shi)：功率（RMS）、電(dian)壓(ya)和對數功率。用戶可根據待測信號特征(zheng)來選擇合(he)適的平均(jun)值檢(jian)波(bo)方(fang)式(shi)，快速(su)獲得準(zhun)確的平均(jun)數據。
     
多軌跡同步測試及(ji)靈活的(de)頻(pin)標讀(du)數
   ;  本產(chan)品(pin)提供多達6條(tiao)(tiao)顯示軌(gui)(gui)跡和12個頻標(biao)。支(zhi)持(chi)用戶同時激活(huo)(huo)多條(tiao)(tiao)軌(gui)(gui)跡、并(bing)選擇不同的(de)(de)視(shi)頻檢(jian)波(bo)方式對信號進(jin)(jin)行同步測(ce)試。本產(chan)品(pin)的(de)(de)頻標(biao)功能靈(ling)活(huo)(huo)，支(zhi)持(chi)用戶在多條(tiao)(tiao)軌(gui)(gui)跡上同時激活(huo)(huo)多個頻標(biao)，并(bing)支(zhi)持(chi)跨(kua)軌(gui)(gui)跡的(de)(de)頻標(biao)互為參考(kao)，進(jin)(jin)行相對參數測(ce)量。
     
中(zhong)、英文操(cao)作(zuo)界(jie)面，寬屏彩色液晶顯示
     本產品目前提(ti)供(gong)中、英文(wen)兩種語言(yan)操作(zuo)界面，可(ke)根據不(bu)同用途及(ji)場(chang)合(he)通過菜單進行選擇。7英寸(cun)高亮度(du)彩色微(wei)反液晶顯(xian)示屏，儀器參(can)數設置一目了然，軌(gui)跡圖形顯(xian)示細膩，在陽(yang)光照射(she)下(xia)依然可(ke)保持清晰(xi)視覺感受。
     
強大的交互(hu)接口
     除基(ji)本的時基(ji)和觸(chu)發接口(kou)外(wai)，本產品還提(ti)供USB、GPIB及LAN等三種數據(ju)通信接口(kou)，滿足(zu)數據(ju)文件(jian)的傳輸拷貝及程控互聯應用。VGA接口(kou)提(ti)供與液(ye)晶(jing)顯示器(qi)同步的視頻信息，便(bian)于監控或演示。
   

典(dian)型(xing)應用(yong)

各類發射機(ji)及(ji)振蕩(dang)源測試
     4037系列頻譜分析儀可用于各類發(fa)射(she)機本振、信號源及振蕩器(qi)等的研制、生產與調試(shi)(shi)、測(ce)(ce)試(shi)(shi)等，對(dui)其進(jin)行頻率(lv)、功率(lv)、寄生、諧波失(shi)真、相位噪聲、調制等指標(biao)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)。
     

元器件及部(bu)件性能測試(shi)
     4037系列頻(pin)譜(pu)分析儀除常規頻(pin)譜(pu)分析測(ce)試(shi)(shi)應用外，與一(yi)臺(tai)合(he)(he)成信號源組(zu)(zu)合(he)(he)，即(ji)可方便(bian)的(de)構建(jian)一(yi)套大(da)動(dong)態(tai)范圍標量網(wang)絡測(ce)試(shi)(shi)系統，可對濾波器(qi)(qi)、放大(da)器(qi)(qi)、電纜(lan)、連接器(qi)(qi)等(deng)部件(jian)或(huo)元器(qi)(qi)件(jian)進行增(zeng)益、插損、頻(pin)率響(xiang)應、帶寬、諧波失(shi)真等(deng)傳輸參數的(de)測(ce)量，配合(he)(he)電橋可實現反射參數的(de)測(ce)量；與兩臺(tai)合(he)(he)成信號源組(zu)(zu)合(he)(he)使用，即(ji)可對放大(da)器(qi)(qi)、混頻(pin)器(qi)(qi)等(deng)有(you)源或(huo)非(fei)線性部件(jian)進行增(zeng)益壓縮、三(san)階交調(diao)失(shi)真等(deng)參數的(de)測(ce)試(shi)(shi)。
     

電子產品生產線測試(shi)及外場維(wei)護、檢(jian)修
     4037系(xi)列頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)定位為中高(gao)檔頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)，具有測(ce)試速度快(kuai)、精度高(gao)、讀數(shu)靈活等特點，非常(chang)適(shi)(shi)合(he)用于生產線在線測(ce)試。同時，4037系(xi)列頻譜(pu)分析(xi)儀(yi)實(shi)現了(le)測(ce)試性能與機體(ti)結(jie)構的(de)(de)*結(jie)合(he)，一方面(mian)減小了(le)整機的(de)(de)尺(chi)寸(cun)、重量和功耗(hao)，另(ling)一方面(mian)又保持了(le)較高(gao)的(de)(de)性能指標(biao)，因此，也(ye)非常(chang)適(shi)(shi)合(he)外場(chang)測(ce)試應用，尤其是需(xu)要現場(chang)故(gu)障診斷與維(wei)修的(de)(de)場(chang)合(he)。
     
構建自(zi)動測試(shi)系(xi)統
     4037系列頻譜分析(xi)儀具有強大的連通(tong)能力，其程控指令集符合SCPI 1999.0規范(fan)。提供符合規范(fan)要(yao)求且經過嚴(yan)格測試的VISA和IVI儀器驅動庫，方便(bian)用戶構建自(zi)動測試系統。