TEGAM R1L-D1高分辨率微歐計,R1L-D1微歐計,TEGAM R1L-D1便攜式微歐計具有以下特點：TEGAM R1L-D1高分辨率微歐計經久耐用：MIL PRF2880F 3級便攜：長時間待機充電電池（140 小時）量程: 200 mΩ 至 2 kΩ （自動和手動）高精度: 讀數的0.05%分辨率: 1 µΩ2, 3 和 4-線測量偏置補償
更新(xin)時間(jian)：2018-06-12
TEGAM R1L-D1高分辨率微歐計,R1L-D1微歐計,TEGAM R1L-D1便攜式微歐(ou)計(ji)具有以下特(te)點：
TEGAM R1L-D1高分(fen)辨率微歐計經(jing)久耐(nai)用：MIL PRF2880F 3級
便攜：長時(shi)間待機充(chong)電電池(140 小時(shi))
量程: 200 mΩ 至 2 kΩ (自動和手動)
高精度: 讀數的0.05%
分辨率: 1 µΩ
2, 3 和 4-線測量
偏置(zhi)補償
背光顯示屏TEGAM R1L-D1zui適用于100和(he)1000 Ω 的三(san)和(he)四(si)線(xian)RTD測試，并利用四(si)線(xian)技術減少(shao)連接阻抗帶來的誤差。TEGAM R1L-D1型儀(yi)(yi)器(qi)在(zai)(zai)測(ce)(ce)試(shi)中(zhong)計(ji)算出阻(zu)值并(bing)在(zai)(zai)LCD顯示器(qi)上顯示出來(lai)。TEGAM R1L-D1也支持三線(xian)和兩線(xian) 測(ce)(ce)量。為了保證儀(yi)(yi)器(qi)的準確(que)度，在(zai)(zai)每次測(ce)(ce)試(shi)電阻(zu)之前(qian)儀(yi)(yi)器(qi)使(shi)用自動歸(gui)零(ling)電路來(lai)關閉測(ce)(ce)試(shi)電流并(bing)將儀(yi)(yi)器(qi)重新設(she)零(ling)。此電路還可以將測(ce)(ce)試(shi)中(zhong)引線(xian)和被測(ce)(ce)電阻(zu)產生的熱(re)電動勢歸(gui)零(ling)。
微歐計型號 | |
描述 | 高精密便攜微歐(ou)計 |
量程 | 200mΩ-2KΩ，5檔 |
zui小分辨率 | 1μΩ |
zui高精度 | 0.05% |
位(wei)數 | 5 1/2 |
測試電流 | 500μA-50mA |
程控操(cao)作 | NO |
電池供電操作 | YES |
電池(chi)類型/工作時間(jian) | 可充放(fang)鎳(nie)鉻電池/140小時 |
便攜防爆箱 | 有 |
標配測試表筆 | 四線(xian)測試夾子 |
選(xuan)配測試表筆 | 四(si)線測試夾子(zi) |
主要應用 | 長導線的低電阻測試 |
主要特點 | 極低測試 |
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