4338B 毫歐表 Agilent 4338B毫歐表二手測試信號電流低且可選擇:1μA~10mA ·測量范圍寬:10μΩ~100kΩ ·分辨率:10μΩ ·接觸檢查功能 ·1kHz交流測量 ·測量速度高:34ms ·內設比較器 ·自動測量(liang)方式
更新時(shi)間:2018-12-21
4338B 毫歐表
測(ce)試信(xin)號電流低且可選擇:1μA~10mA
·測量(liang)范圍寬:10μΩ~100kΩ
·分(fen)辨(bian)率:10μΩ
·接觸(chu)檢查功能
·1kHz交流測量
·測量(liang)速度高(gao):34ms
·內設(she)比較(jiao)器
·自動測量方(fang)式
HP 4338B毫歐表(biao)
HP 4338B毫歐表是一臺精(jing)密、可靠、高速的測量儀(yi)器,用于低阻(zu)測量。
精密低阻測量
在低電(dian)(dian)流電(dian)(dian)路(lu)中(zhong),機電(dian)(dian)元(yuan)件的(de)(de)接觸故障是元(yuan)件可靠性中(zhong)的(de)(de)主要問題。HP 4338B提(ti)供(gong)可(ke)選(xuan)擇的低交流(liu)測試信號(1μA~10mA)。用戶(hu)目前可(ke)在(zai)低(di)電(dian)流(liu)的(de)條件(jian)下(xia)來表征機電(dian)元件(jian)的(de)低(di)阻(zu)特性。10μΩ的高分辨(bian)率可(ke)用來確定(ding)繼(ji)電(dian)(dian)器、開關、接頭、印制(zhi)電(dian)(dian)路(lu)板圖形和電(dian)(dian)纜(lan)在接觸(chu)電(dian)(dian)阻測(ce)試中的微小差別(bie)。1kHz測試(shi)信(xin)號消除(chu)了由(you)熱電對被測元件(jian)接(jie)觸的影響而引入(ru)的潛(qian)在誤差。1kHz的(de)交流測試(shi)信號是檢查(cha)電池(chi)內阻(zu)的(de)方(fang)法,因為它(ta)避免了(le)直流能(neng)量的(de)消(xiao)耗。
高速測量
高速(34ms)內設比較器和HP-IB/處(chu)理器接口有可(ke)能用(yong)自動處(chu)理器和外部計算機構成一(yi)個測量系統(tong),使生產測試時間(jian)縮短(duan)到最低限度。
自動測量方式
在進(jin)行大量(liang)連續的測試(shi)(shi)、而測試(shi)(shi)信號電平又不是(shi)很主要的因素時,自(zi)動測量(liang)功(gong)能會使(shi)儀器選擇合適(shi)的測試(shi)(shi)信號并(bing)設定測量(liang)范圍(wei)。
技術指標
(全(quan)面的技(ji)術(shu)指標(biao)請參閱技(ji)術(shu)資料)
測(ce)量(liang)功能
測量參數(shu):R(交(jiao)流電阻),X(電抗(kang)),L(電(dian)感),|Z|(阻(zu)抗),θ(相位[°])
組合參數:R,R-X,R-L,|Z|-θ(只適用(yong)于串聯模式)
數學功能:偏(pian)差和(he)相(xiang)對偏(pian)差(以百分比表示(shi))
顯示(shi)數(shu)字(zi):3.4或5位(wei)(可選擇)
測試(shi)信號特性(xing)
測試頻(pin)率:1kHz
頻(pin)率精(jing)度(du):±0.1%
測試信(xin)號電(dian)平(ping):1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms
電平(ping)精度:±(10%+0.2μA)
樣品兩(liang)端的最大電壓:在(zai)任何情況下最大為20mV峰值
測量范圍
參數(shu) 測量范圍
R 10μΩ~100kΩ
X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典(dian)型值(zhi))
θ -180°~+180°(典(dian)型值)
測量精度:R的基(ji)本精(jing)度為±0.4%
測量時(shi)間:從觸(chu)發命令(ling)到處(chu)理器界面端口上(shang)的結束測量(EOM)信號(hao)輸出的時(shi)間(jian)間(jian)隔(ge)
模式(shi) 時間(典型值)
短 34ms
中(zhong)等 70ms
長 900ms
修(xiu)正功能
短路誤差為0:消除由測(ce)試夾具(ju)中雜散寄生阻抗引的測(ce)量誤差
比較功能
對每個一次測量參(can)(can)數(shu)和二次測量參(can)(can)數(shu)設立高/符(fu)合(he)/低界限
接觸檢查功能
可(ke)以檢測測試(shi)夾具與器件之間的接(jie)觸(chu)故(gu)障
其它功能
疊(die)加(jia)直(zhi)流(liu):在測(ce)量端可(ke)能給出±42Vdc(最大值)
存(cun)儲/調用(yong):可以由內(nei)部非易失存儲(chu)器對10種儀器設置進(jin)行存儲/調 用(yong)
連續存儲(chu)功(gong)能:若儀(yi)器被切斷或(huo)發生(sheng)電源(yuan)故障,儀(yi)器設置將自動被存 儲起來(在23±5℃時≤72小時)
HP-IB接(jie)口(kou):所(suo)有控制設置(zhi)、被測值和比較器(qi)信息
處理器接口:所有輸出信號為負(fu)邏輯,光隔離開路集電極
輸出信號包括(kuo):高(gao)/符(fu)合/低、變址(zhi),測量(liang)結束和(he)告警。輸入信號是健鎖(suo)定和(he)外觸發
一般指標
電源要求:198~264V,47~66Hz,45VAmax
工作溫度:0°~45℃
尺寸:320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)
重(zhong)量:4.5kg
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