產品概述: Fluke1621接地電阻測試儀移動使用的手持式接地測試儀Fluke 1621 是(shi)一款簡單易用(yong)的(de)(de)(de)接(jie)(jie)地(di)測(ce)試儀(yi)。 對于接(jie)(jie)地(di)電(dian)阻測(ce)試場合，1621 是(shi)檢測(ce)可靠(kao)接(jie)(jie)地(di)連接(jie)(jie)線路的(de)(de)(de)*道防(fang)線。 裝置采(cai)用(yong)多種基本的(de)(de)(de)接(jie)(jie)地(di)測(ce)試方法(fa)，其中包括(kuo)三極電(dian)壓降測(ce)試法(fa)及(ji)兩極接(jie)(jie)地(di)電(dian)阻測(ce)試法(fa)。 它的(de)(de)(de)尺寸輕巧方便，擁有結(jie)實的(de)(de)(de)皮套以及(ji)清晰的(de)(de)(de)寬大 LCD 顯示屏，使之成為大多數電(dian)氣接(jie)(jie)地(di)工作場合的(de)(de)(de)理想現場接(jie)(jie)地(di)測(ce)試儀(yi)。 Flu
更新時間：2018-11-19
移動使用的手持式接地測試儀
Fluke 1621 是(shi)(shi)一款(kuan)簡(jian)單易(yi)用(yong)的接地(di)測(ce)試儀。 對于(yu)接地(di)電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)試場合(he)，1621 是(shi)(shi)檢測(ce)可(ke)靠接地(di)連接線(xian)路的*道防(fang)線(xian)。 裝置采用(yong)多種基本的接地(di)測(ce)試方法(fa)(fa)，其中包括(kuo)三極電(dian)(dian)壓降測(ce)試法(fa)(fa)及兩極接地(di)電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)試法(fa)(fa)。 它的尺寸輕巧方便，擁有結實的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯(xian)示屏，使(shi)之成為(wei)大多數電(dian)(dian)氣(qi)接地(di)工作場合(he)的理想現場接地(di)測(ce)試儀。 Fluke 1621 擁有簡(jian)單的用(yong)戶界(jie)面(mian)和(he)(he)直觀易(yi)用(yong)的功能(neng)，是(shi)(shi)一款(kuan)電(dian)(dian)氣(qi)承(cheng)包商、設備測(ce)試工程人(ren)員和(he)(he)接地(di)專業人(ren)士不(bu)可(ke)多得的手持式(shi)接地(di)測(ce)試工具(ju)。
通用技術(shu)指(zhi)標 | ||
測(ce)量(liang)功能 | 三極接地電阻，二極導(dao)體交流(liu)電阻，干擾電壓(ya) | |
基本誤差 | 請(qing)參照基準溫度范圍，一年(nian)保證 | |
測量速度 | 2 個(ge)測量(liang)值/秒 | |
電池¹ | 一節 9 V 堿性電(dian)池 (LR61) | |
電池狀況 | 電(dian)(dian)壓降至 6.5 V 以下時顯示(shi) LO-BAT（電(dian)(dian)池低電(dian)(dian)量） | |
電(dian)壓 | H/C2 插(cha)孔(kong)和 E/C1 插(cha)孔(kong)之間 | 最大 250 Veff（有效(xiao)電壓） |
S/P2 插孔和 E/C1 插孔之間 | 最(zui)大 250 Veff | |
氣候等級(ji) | VDE/VDI 3540 RZ（依照(zhao) DIN 40040，4/87 符(fu)合(he) KWG） | |
溫度(du)性能² | 工(gong)作(zuo) | -10 °C 至 +50 °C（+14 °F 至 +122 °F） |
工作溫度 | 0 ºC 至 +35 ºC（+32 ºF 至 +95 ºF） | |
存放溫度 | -20 °C 至(zhi) +60 °C（+68 °F 至(zhi) +140 °F） | |
基(ji)準型 | +23 °C ±2 °C (+73 °F ±4 °F) | |
溫度系數(shu) | 量程(cheng)的 ± 0.1% / K | |
安全性 | IEC/EN 61010-1，600 V CAT II，污染等級(ji) 2 | |
尺寸 | 113 x 54 x 216 mm（4.5 x 2.1 x 8.5 in），包括(kuo)皮套 | |
重量 | 850 g（1.9 lb），包括標準(zhun)附件；體(ti)積約(yue)為(wei) 600 cm³ | |
電氣技術指標 | ||
最大偏差 | E1 影(ying)響因素(su) | 位置(zhi) |
E1 偏差(cha)影響(xiang) | 0% | |
E2 影響(xiang)因(yin)素 | 電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya) | |
E2 偏差影響 | 0% | |
E3 影響(xiang)因素 | 溫度 E3 | |
E3 偏(pian)差影(ying)響 | 2.3% | |
E4 影響(xiang)因素(su) | 串行接口電壓 (20 V) | |
E4 偏差影(ying)響 | 0.6% | |
E5 影響因素 | 探(tan)針(zhen)電阻和輔助探(tan)針(zhen)電阻 | |
E5 偏差影響 | 10% | |
測(ce)試電壓 | 3.7 kV | |
保(bao)護類型 | IP 40；IEC/EN 60529 | |
電磁兼容性 | 輻(fu)射(she) | IEC/EN 61326 B 級 |
抗擾性 | IEC/EN 61326 附錄 C | |
RE 電阻測量 | 測(ce)量(liang)方法 | 測(ce)(ce)量電流和電壓(ya)，串擾衰減率(lv)降低，無需補償測(ce)(ce)量導線電阻，依(yi)照(zhao) IEC/EN 61557-5 標準采用(yong)探針（三極）或不(bu)采用(yong)探針（二極）進(jin)行測(ce)(ce)量 |
開(kai)路電(dian)壓(ya) | 23 至 24 V（交流） | |
短路電(dian)流 | > 50 mA（交流） | |
測(ce)量頻(pin)率 | 128 Hz | |
最大允許過載 | 250 Veff | |
測量時間 | 8 秒(miao)（按下 START 時起的平均值） | |
極限輸(shu)入 | 即使(shi)儀(yi)(yi)器關閉(bi)，測試儀(yi)(yi)仍保(bao)留(liu)設定值（假(jia)設電(dian)池電(dian)量足夠） | |
自動(dong)轉換分辨率 | RH | < 7 kΩ |
分辨率 | 0.01 Ω | |
RH | < 50 kΩ | |
分辨率 | 0.1 Ω | |
RH | > 50 kΩ | |
分(fen)辨(bian)率(lv) | 1 Ω | |
干擾電壓顯(xian)示（直(zhi)流(liu) + 交流(liu)） | Vmax | 30 Veff |
共模抑制比 | 在 50 Hz 和 60 Hz下大于 80 dB | |
Ri | 680 kΩ | |
測量誤差(cha) | 純交流和(he)直流信號(hao)為(wei) < 10% | |
測量(liang)范圍(wei) | ||
0.15 Ω 至 20 Ω | 分辨率 | 0.01 Ω |
顯(xian)示范圍 | 0 至 19.99 Ω | |
200 Ω | 分辨率 | 0.1 Ω |
顯(xian)示(shi)范圍 | 20 至 199.9 Ω | |
2 kΩ | 分辨率 | 1 Ω |
顯示(shi)范圍(wei) | 200 至 1999 Ω | |
基(ji)本誤差 | ±（測(ce)量(liang)值的 6% + 5 位數） | |
操作誤(wu)差(cha) IEC 61557³ | ±（測(ce)量值的 18% + 5 位(wei)數） | |
1. 如果(guo)要長時間不使用或存放(fang)測(ce)試儀(yi)(yi)，取出電(dian)池(chi)并將它與測(ce)試儀(yi)(yi)分開(kai)存放(fang)，以免(mian)測(ce)試儀(yi)(yi)因電(dian)池(chi)漏液而(er)損(sun)壞。 | ||
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