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TH9520集成化磁性元器件測試分析系統性能特點■ 高分辨率：7寸800×480點，TFT-LCD顯示■ 小體積、多功能、四合一交直流耐壓絕緣匝間絕緣測試直流低電阻分析電感測試■ 500VA大功率AC耐壓設計，符合UL1004-1電機測試標準■ 八通道切換技術，可同時測試八組不同器件■ 創新切換測量電路結構，四大功能高速切換■ 新型(xing)高壓測試(shi)(shi)夾(jia)具TH9520集成化磁性元器件測試(shi)(shi)
更新時(shi)間(jian)：2018-07-24
TH9520集成化磁性(xing)元(yuan)器(qi)件測(ce)試分析系統
性(xing)能特點
■ 高分辨(bian)率：7寸800×480點，TFT-LCD顯示
■ 小體(ti)積、多功能、四合一
交直流(liu)耐壓絕緣
匝間絕緣(yuan)測(ce)試
直(zhi)流低電阻分析
電感(gan)測試
■ 500VA大功(gong)率AC耐壓設計，符合UL1004-1電機(ji)測(ce)試標(biao)準(zhun)
■ 八通(tong)道切換技術(shu)，可同時測(ce)試八組不同器件
■ 創新切換(huan)測量(liang)電路(lu)結構(gou)，四大(da)功(gong)能高速切換(huan)
■ 新型高(gao)壓測試夾(jia)具
匝(za)間絕(jue)緣、直流低(di)電阻、電感(gan)測試(shi)(shi)儀四端開爾文測試(shi)(shi)
■ 匝間耐壓脈沖采樣電路全差分信號路徑設(she)計(ji)：
高速采(cai)樣ADC全面提升至12bit，200MHz采(cai)樣率。
■ 快(kuai)速(su)接(jie)觸檢查功能，實現測試夾具的快(kuai)速(su)檢測
■ 通訊(xun)接口：RS232、USB HOST、USB DEVICE
應用
■ 電(dian)機綜合分(fen)析測試
■ 變(bian)壓器綜合分析(xi)測試
■ 電感綜(zong)合測試
■ 充(chong)電樁電感特性綜合分析測試(shi)
■ 磁(ci)性元(yuan)器(qi)件綜合(he)分析(xi)測試
技術參數
產(chan)品型號 | TH9520 | ||||||||
通(tong)道數 | 8 | ||||||||
耐壓測試(shi) | |||||||||
輸出電壓 | AC | 0.05 — 5.00kV 精(jing)度：± (1%讀(du)數+5個(ge)字) ，頻(pin)率(lv)：50Hz、60Hz | |||||||
DC | 0.05 — 6.00kV 精度(du)：± (1%讀數+5個(ge)字) | ||||||||
調整率(lv) | ≤(1% - 5V)（額定功率） | ||||||||
電(dian)流(liu)范圍 | AC | 0.000mA - 100.00mA 精(jing)度：±(1%讀數+2個字) | |||||||
DC | 0uA - 20.00mA 精度：±(1%讀數+2個字) | ||||||||
輸出功率(lv) | 500VA | ||||||||
絕緣電阻測試 | |||||||||
輸出(chu)電壓 | 0.05 - 5kV 精(jing)度：± (1%讀數(shu)+5個(ge)字) | ||||||||
電阻(zu)測(ce)試范圍 | 0.1MΩ-10.0GΩ 分辨率：0.1MΩ | ||||||||
測(ce)量精(jing)度(du) | ≥500V | 1MΩ - 1GΩ ±(5%讀(du)數(shu)+5 個字) | |||||||
1GΩ - 10GΩ±(10%讀數+5 個字) | |||||||||
< 500V | 0.1MΩ - 1GΩ±(10%讀數+5 個(ge)字) | ||||||||
1GΩ - 10GΩ | |||||||||
時(shi)間設定 | |||||||||
上(shang)升時間 | 0.1s - 999.9s | ||||||||
測(ce)試(shi)時(shi)間 | 0.2s - 999.9s | ||||||||
下(xia)降(jiang)時間(jian) | 0.1s - 999.9s | ||||||||
匝間絕(jue)緣測試(shi) | |||||||||
輸出(chu)脈沖電壓 | 100V-6000V 10V步進 精度(du)： ±5%±15V | ||||||||
電感量測(ce)試范圍 | ≥10μH | ||||||||
脈沖能(neng)量 | 大(da) 0.36焦(jiao)耳 | ||||||||
波形采樣 | 12bit，200MHz | ||||||||
施加脈(mo)沖數 | 大到32個 | ||||||||
判定方法 | 面積(ji)比較(jiao)，面積(ji)差比較(jiao)，電暈放電，相位差比較(jiao) | ||||||||
直流低電阻測(ce)試/△與Y型電阻測試 | |||||||||
測試信號 | ≤DC 3V ，≤DC 1A | ||||||||
測試范圍 | 0.01mΩ - 1.2MΩ | ||||||||
電(dian)阻(zu) | 量程 | 100mΩ | 1Ω | 10Ω | 100Ω | 1kΩ | 10kΩ | 100kΩ | 1MΩ |
精度(du) | ±(0.1%讀數(shu)+0.02%滿量程(cheng)) | ±(0.05%讀數(shu)+0.01%滿(man)量(liang)程) | ±(0.1%讀數+0.02%滿量程) | ||||||
電(dian)感測試 | |||||||||
測(ce)試參數(shu) | Ls, Lp，Rs，Rp，Q | ||||||||
測量準確度 | 0.5% | ||||||||
測試頻率 | 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz, 10kHz, 100kHz | ||||||||
測(ce)試(shi)信(xin)號(hao)電平 | 1.0Vrms | ||||||||
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