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GL900系列記錄儀

簡要描述:

GL900系列記錄儀產品概述
近年來,對于電氣產品與工業產品,提高其可靠性已成為重要的開發要素。諸如跌落試驗 振動試驗撞擊試驗環境試驗等,各類*的試驗應運而生。 
尤其是(shi)可(ke)動部與驅動部耐(nai)久試(shi)驗等,需反復進行數萬次試(shi)驗與數千小時的(de)耐(nai)久試(shi)驗。在(zai)此背景下,測(ce)量(liang)機器(qi)需具備(bei)可(ke)進行高速取(qu)樣與長時間數據收(shou)錄性能、可(ke)對各類現象(電壓/溫度/高電壓)實現同時測(ce)定。

更新時間:2018-06-29

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GL900系列記錄儀產品概述

近(jin)年來,對于電氣產品與工(gong)業產品,提高(gao)其(qi)可靠性已成為重(zhong)要的開發(fa)要素。諸如跌落試(shi)驗(yan)(yan) 振(zhen)動試(shi)驗(yan)(yan)撞擊試(shi)驗(yan)(yan)環境(jing)試(shi)驗(yan)(yan)等,各(ge)類*的試(shi)驗(yan)(yan)應運(yun)而生。 
尤(you)其是可(ke)動(dong)部(bu)與驅動(dong)部(bu)耐久(jiu)試(shi)驗等,需(xu)反復進行數萬次試(shi)驗與數千小時的耐久(jiu)試(shi)驗。在此背(bei)景下,測量機器需(xu)具備可(ke)進行高(gao)速(su)取樣與長時間數據收(shou)錄性能、可(ke)對各類現象(電壓(ya)/溫度/高(gao)電壓(ya))實現同時測定。 
此(ci)外,用多種產(chan)品進行長時間及(ji)耐久試(shi)(shi)驗時,需增加試(shi)(shi)驗裝(zhuang)置(zhi)數(shu)(shu)量(liang),為收錄其(qi)試(shi)(shi)驗數(shu)(shu)據,需配備各(ge)類小型(xing)、合理的測量(liang)儀。 
「midi LOGGER GL900系列」產(chan)品(pin)上述(shu)各類產(chan)品(pin)試驗使用,采用可安心(xin)進(jin)行信號輸(shu)(shu)入(ru)(ru)的(de)絕緣輸(shu)(shu)入(ru)(ru)方(fang)式。 同時,從支(zhi)持DC500V的(de)高電壓輸(shu)(shu)入(ru)(ru),到溫(wen)度(du)(du)測定(ding)/濕度(du)(du)測定(ding)/脈沖輸(shu)(shu)入(ru)(ru)/邏輯(ji)輸(shu)(shu)入(ru)(ru),實現(xian)可測定(ding)各類現(xian)象(xiang)的(de)多功(gong)能輸(shu)(shu)入(ru)(ru)。

GL900系列記錄儀性能概要

基(ji)本性(xing)能:全通道絕緣(yuan);4ch/8ch兩(liang)種(zhong)型號(hao);全CH同時采樣;內藏(zang)RAM100萬;內藏(zang)存儲(chu)器(qi)256MB;USB存儲(chu)器(qi)收錄對(dui)應。

測定對象(xiang):電壓(500v),溫度(熱電偶),濕度,脈沖,邏輯

網絡連接:USB2.0,100BASE.TX,WEB服務(wu)器(qi),FTP服務(wu)器(qi),NTP客(ke)戶端(duan)

主機特長

可隨意使用(yong)的縱置型絕緣高速多功能記(ji)錄(lu)儀
可(ke)高速(su)、同步測定長時(shi)間(jian)動作耐久試驗中的電(dian)壓、溫度(du)等各類現象的數據記(ji)錄儀。 
可進(jin)行(xing)絕(jue)緣多(duo)功(gong)能輸入,是可隨意使用的縱置型產品。

支持高電(dian)壓(ya)測定

電壓(ya)(ya)范圍(wei)搭載寬幅DC500V范圍(wei),還(huan)可(ke)進行AC100~350V電源電壓(ya)(ya)的(de)波形測(ce)定(ding)。 同時,通過并(bing)用邏(luo)輯輸(shu)入或鉗位表,還(huan)可(ke)同步測(ce)定(ding)機器的(de)電源電壓(ya)(ya)?電流、及各部分的(de)程(cheng)序控制信號。

可向(xiang)物理量單位變換

測(ce)量電流或(huo)通(tong)過電壓(ya)測(ce)量各種物理(li)現象時,可通(tong)過縮(suo)放(fang)功能變換為(wei)測(ce)定對象物的物理(li)量。 
普通物理(li)量單位已事先(xian)登錄于主機內(nei)。 
設定(ding)簡(jian)單,只(zhi)需選擇設定(ding)種(zhong)類,即可選擇與(yu)其相關的單位,十分簡(jian)便。
此外,未(wei)登錄單(dan)位可以組合字母與數字進行創建。

高(gao)速同步取樣 搭載16位A/D

數(shu)據収錄可(ke)以zuigao100kHz的(de)高(gao)速(su)(su)取樣速(su)(su)度(du),實現(xian)全頻道同步(bu)收錄(lu)。 同時(shi),作為可進(jin)行高(gao)速(su)(su)取樣収錄(lu)的(de)測量儀(yi),還搭(da)載16位A/D,實現(xian)高(gao)分解性能(neng)。 此外(wai),還搭(da)載有(you)與(yu)外(wai)部機器同步(bu)取樣的(de)外(wai)部取樣功能(neng)。

搭(da)載(zai)大型5.7英寸彩(cai)色(se)液晶(jing)顯示(shi)器 實(shi)行(xing)明(ming)亮、易識別的波形顯示(shi)

搭(da)載(zai)明亮、易識別的大(da)型5.7英寸彩色TFT液晶顯示器(qi),實現鮮(xian)明、易識別的波(bo)形(xing)顯示。 用(yong)光標鍵進行簡單操作(zuo)也(ye)可(ke)實現快速設定。借助示波(bo)器(qi)式樣的操作(zuo)性,可(ke)對(dui)高(gao)速波(bo)形(xing)進行擴大(da)/縮小的切換。

無需收錄(lu)數據(ju)便可(ke)確認的自由運(yun)行顯示(shi)

即便不(bu)開始測定(ding)(ding),也可通過自由運行顯(xian)(xian)示確認輸入信號波形。只(zhi)需(xu)接通主(zhu)機電源便可在畫面顯(xian)(xian)示輸入信號波形,易進行范圍等的(de)設定(ding)(ding)。

針對所(suo)收錄(lu)(lu)的數(shu)(shu)據,搭載有特定值的搜索與統(tong)(tong)計(ji)運算(suan)功(gong)能。可對長時間的收錄(lu)(lu)數(shu)(shu)據進行簡單搜索、并顯示異常(chang)值。 此外,對于(yu)収錄(lu)(lu)數(shu)(shu)據的統(tong)(tong)計(ji)運算(suan),可通過(guo)1個畫面確認各種運算(suan)結(jie)果(guo)。

配備4種(zhong)測定畫(hua)面

可(ke)選擇符合測定用途的顯示畫(hua)面。共有以下4種畫(hua)面可(ke)供選擇。
在數字畫面可(ke)選(xuan)擇2ch顯(xian)示(shi)、4ch顯(xian)示(shi)、8ch顯(xian)示(shi)(僅限GL900-8)。

可作為(wei)X-Y錄音機使用

再現模擬X-Y錄(lu)音機的操作(zuo)。 可(ke)再現Pen Up & Down的動作(zuo)與圖像,可(ke)進(jin)行(xing)類似模擬X-Y錄(lu)音機的操作(zuo)。 同(tong)時支持4Pen X-Y錄(lu)音機。 此外,數字數據還可(ke)對測定后的數據值進(jin)行(xing)簡(jian)便確認并創建(jian)報告(gao)書。

從長時間(jian)收錄數據中簡單搜(sou)索異常值(zhi)

可對(dui)應各種測量場景

對于跌(die)落(luo)試(shi)驗、撞擊試(shi)驗等(deng)高(gao)速(su)現象,可以1ms以上的(de)(de)高(gao)速(su)取樣(yang)速(su)度,大可收錄(lu)100萬(wan)點至內置RAM中。且由(you)于全頻(pin)道同(tong)時取樣(yang),不存在頻(pin)道間(jian)的(de)(de)時間(jian)差,因而可確認各部分的(de)(de)相(xiang)關關系(xi)。此外(wai)(wai),對于耐久試(shi)驗等(deng),因采用1ms~1min的(de)(de)低速(su)取樣(yang),可向大容量256MB內置閃存或(huo)外(wai)(wai)部USB存儲器(qi)中長時間(jian)地收錄(lu)相(xiang)關數據。

 

收錄(lu)位置

10μs

100μs

500μs

1ms

10ms

100ms

1s

內置RAM
大100萬點

10秒

約1分40秒(miao)

約8分(fen)20秒

約(yue)16分40秒

約2小時40分

約1日3小時

約11日13小時

內置閃存
(256MB)

×

×

×

約1小時

約11小(xiao)時

約4日

約46日

USB存儲(chu)器(qi)
(例:512MB)

×

×

×

約2小時

約22小時(shi)

約9日

約93日

用(yong)途(tu)示例

■跌落(luo)試(shi)驗(yan)
■撞(zhuang)擊試驗
■振動試驗

■耐(nai)久試驗
■拉(la)伸&壓縮試(shi)驗
■環境試驗

 

 

 

 

向可與PC簡單連(lian)接的USB存儲器(qi)中收錄數據(ju)

外部(bu)存儲(chu)媒體可(ke)(ke)使(shi)用(yong)USB存儲(chu)器。 若向收(shou)錄位(wei)置USB存儲(chu)器,則測定(ding)數據可(ke)(ke)直(zhi)接保存于USB存儲(chu)器內。 
此外(wai),對于耐久試驗等長時間測(ce)定(ding),也可根據測(ce)定(ding)時間使用適(shi)合(he)容量的(de)USB存(cun)儲器,即可支持本(ben)項測(ce)定(ding)。 
針對向PC進行的數據傳(chuan)輸,操(cao)作(zuo)時僅需簡(jian)單地將USB存儲器插入(ru)PC即(ji)可。
※収錄(lu)數據時,1個(ge)文件大2GB,在使用市面出售USB存儲器的(de)情況下,請配備無需(xu)指(zhi)紋認證等功能的(de)標準產品。

豐富的觸發器(qi)功能(neng)與定時器(qi)功能(neng)

通(tong)過組(zu)合(he)使用(yong)觸發器(qi)功(gong)(gong)能與定時器(qi)功(gong)(gong)能,無需進行多(duo)余的(de)數據收錄,可僅對必要數據進行記錄。

 

 

模(mo)式

條件

定時器設定

定時器(qi)模(mo)式(shi)

Off 日期(qi)時刻(ke) 毎(mei)日周(zhou)期(qi)&毎(mei)小(xiao)時周(zhou)期(qi)

觸(chu)發器(qi)設定

開(kai)始側數據源設(she)定

Off 水平值 外部輸(shu)入&一定時間

停止側數據源設定

Off 水平值 外部輸入&一定(ding)時間

預觸發

0~100%

重復(fu)功能

Off On及重復間隔(ge)

 

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