R&S®RTE數字示波器產品簡述：深圳市新(xin)進時科技有限(xian)公司(si)是ROHDE&SCHWARZ羅(luo)德(de)與施(shi)瓦(wa)(wa)茨的(de)(de)代理商。優(you)異的(de)(de)信號保真度，高(gao)波形捕獲(huo)率，*的(de)(de)數字觸發系統以(yi)及智能化的(de)(de)用戶界面，這(zhe)些都(dou)是羅(luo)德(de)與施(shi)瓦(wa)(wa)茨示波器給您帶來的(de)(de)不同體驗(yan)。
更新時間：2018-06-04
R&S®RTE數字示波器
產品簡述(shu)：
深圳市新進時(shi)科技有限公司是ROHDE&SCHWARZ羅德與施(shi)瓦(wa)茨的(de)代理商。優異的(de)信(xin)號保真度(du)，高(gao)波(bo)形(xing)捕獲率，*的(de)數字(zi)觸發系統以及(ji)智能化的(de)用戶(hu)界面，這些(xie)都是羅德與施(shi)瓦(wa)茨示波(bo)器給您帶(dai)來的(de)不同(tong)體驗。
羅(luo)德(de)(de)與(yu)施瓦(wa)茨示(shi)波器(qi)(qi)的選擇范(fan)圍廣泛，從應(ying)用于服務維修和教育領域(yu)的經濟(ji)性示(shi)波器(qi)(qi)，到用于研(yan)發或EMI調試的帶寬高(gao)達600MHz至4GHz的示(shi)波器(qi)(qi)，用戶(hu)都(dou)將受(shou)益于羅(luo)德(de)(de)與(yu)施瓦(wa)茨產(chan)品的高(gao)質量(liang)、深度開發以及制造技術等優勢。
我們將持續研發(fa)新的產(chan)品、應用及附件，以增強我們示波器的產(chan)品競(jing)爭力。
性能出色、使用方(fang)便的R&S®RTE示波器(qi)：
R&S®RTE 示波器(qi)具有200 MHz至2 GHz的帶寬范圍和(he)優(you)異的性能參數，在同(tong)類產(chan)品中樹立了新(xin)標準：
Ø 高采樣率5 Gs/s，大(da)存儲(chu)深度為(wei)200 M樣點，可(ke)精確采集長信號序列
Ø 波形(xing)捕獲率大于每秒100萬個波形(xing)，可快速(su)發現信號罕見(jian)錯誤
Ø 超低(di)噪(zao)聲模(mo)擬前端和(he)16位垂直分辨率，在高分辨率模(mo)式下顯示精確結果(guo)
Ø 高精度數字觸發(fa)系(xi)統幾乎沒有(you)任何抖動，適合(he)針(zhen)對小信號(hao)細節進行實時(shi)觸發(fa)
特點和(he)優勢：
l 更準確(que)的測量
² 固有噪聲極低，可進行精確測量
² 單核A/D轉(zhuan)換(huan)器保(bao)證(zheng)高動態范(fan)圍(wei)
² 即使(shi)在500 μV/div 量(liang)程下也能達到全測(ce)量(liang)帶寬
² 時間分辨率高，存儲深度大
² 波形捕獲率達到每秒100萬個波形，可快速查(cha)找罕見信號故障
² 使用數字觸(chu)發(fa)系統(tong)進行精確觸(chu)發(fa)
l 更愉(yu)悅的操作體驗
² 高分辨率觸摸屏
² 可自定義的顯示(shi)
² 快(kuai)速訪問重要工具
² 隨著(zhu)指尖在屏幕上(shang)移動，信(xin)號細(xi)節隨之放大到指尖位(wei)置(zhi)
² 快速訪問(wen)儀(yi)器設置
² 按下一個按鈕即可(ke)進行歸檔
l 更(geng)多(duo)功能，更(geng)快獲(huo)得測量結果
² 自動測(ce)(ce)量：77種測(ce)(ce)量功能(neng)
² QuickMeas：一鍵快捷(jie)操作即可獲得關鍵測(ce)量結果
² 歷史模式：按當前(qian)時間往回(hui)查看波形
² 模板測試：設置僅(jin)需(xu)數(shu)秒
² FFT功能：分析信號頻譜的簡(jian)便方法
² 搜索和導航：聚焦于(yu)信(xin)號細節
² 數學運算(suan)：計算(suan)十分(fen)方便
² 參考(kao)波形：快(kuai)速進行(xing)比較
l 可擴展性(xing)：提高(gao)應用能力(li)
²; 邏(luo)輯分(fen)析：快速、精(jing)確地測試嵌入式(shi)設計(ji)系(xi)統(tong)
² 串(chuan)行協議：方便(bian)的觸發與(yu)解碼
² 電(dian)源分析：詳細分析電(dian)源和(he)電(dian)壓
² 高分辨率(lv)顯示：16位垂(chui)直分辨率(lv)，能(neng)夠查看更多(duo)內容(rong)
² EMI調試(shi)：產品開發期間的電磁干(gan)擾測試(shi)
l 探頭：優良的(de)探測性能
² 豐(feng)富(fu)的探頭選擇以應對任何(he)測量任務
² 優異的性能(neng)，高信號保真度
² 高(gao)達(da)0.01 % 的(de)探(tan)頭測量精度
² 有源(yuan)探頭配(pei)備微按鈕以控制儀器
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